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1. WO2004057285 - SYSTEME D'ANALYSE OPTIQUE

EP1576346OPTICAL ANALYSIS SYSTEM
Appl.Date 19.12.2003
N° de demande 03813697 Déposant KONINKL PHILIPS ELECTRONICS NV Type de publication A1,B1 Langue de publication en
Inclusion Criteria IC2
Ouverture de la phase nationale d'une demande PCT.

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Date de publication 21.09.2005
CN1729388 Optical analysis system
Appl.Date 19.12.2003
N° de demande 200380106841.0 Déposant Koninkl Philips Electronics NV Type de publication A,C Langue de publication zh
Inclusion Criteria IC2
Ouverture de la phase nationale d'une demande PCT.

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Date de publication 01.02.2006
AU2003296833Optical analysis system
Appl.Date 19.12.2003
N° de demande 2003296833 Déposant KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V. Type de publication A
Inclusion Criteria IC2
Ouverture de la phase nationale d'une demande PCT.

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Date de publication 06.05.2004
WO/2004/057285OPTICAL ANALYSIS SYSTEM
Appl.Date 19.12.2003
N° de demande PCT/IB2003/006089 Déposant BAKKER, Levinus, P. Type de publication A Langue de publication en
Inclusion Criteria IC1
Demande PCT à l'origine de la famille.
Date de publication 08.07.2004
DE000060318249OPTISCHES ANALYSESYSTEM
Appl.Date 19.12.2003
N° de demande 60318249 Déposant KONINKL PHILIPS ELECTRONICS NV Type de publication T,T2
Inclusion Criteria IC6
Relié par un champ de priorité.
Date de publication 04.12.2008
JP2006510899光学分析システム
Appl.Date 19.12.2003
N° de demande 2004561903 Déposant コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ Type de publication A Langue de publication ja
Inclusion Criteria IC2
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Date de publication 30.03.2006
IN1286/CHENP/2005OPTICAL ANALYSIS SYSTEM
Appl.Date 16.06.2005
N° de demande 1286/CHENP/2005 Déposant KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V. Type de publication A,B Langue de publication en
Inclusion Criteria IC2
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Date de publication 10.08.2007
US20060158734Optical analysis system
Appl.Date 27.10.2005
N° de demande 10539540 Déposant Koninklijke Philiips Electronics N. V. Type de publication A1,B2 Langue de publication en
Inclusion Criteria IC2
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Date de publication 20.07.2006