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1. US20180003735 - Tip enhanced laser assisted sample transfer for biomolecule mass spectrometry

Office
États-Unis d'Amérique
Numéro de la demande 15541731
Date de la demande 07.01.2016
Numéro de publication 20180003735
Date de publication 04.01.2018
Numéro de délivrance 10107835
Date de délivrance 23.10.2018
Type de publication B2
CIB
H01J 49/00
HÉLECTRICITÉ
01ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
JTUBES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE OU LAMPES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE
49Spectromètres pour particules ou tubes séparateurs de particules
G01Q 30/02
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
QTECHNIQUES OU APPAREILS À SONDE À BALAYAGE; APPLICATIONS DES TECHNIQUES DE SONDE À BALAYAGE, p.ex. MICROSCOPIE À SONDE À BALAYAGE
30Moyens auxiliaires destinés à assister ou améliorer les techniques ou les appareils à sonde à balayage, p.ex. dispositifs d’affichage ou de traitement de données
02Dispositifs d'analyse d’un type autre que la microscopie à sonde à balayage SPM, p.ex. microscope électronique à balayage SEM , spectromètre ou microscope optique
G01Q 60/40
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
QTECHNIQUES OU APPAREILS À SONDE À BALAYAGE; APPLICATIONS DES TECHNIQUES DE SONDE À BALAYAGE, p.ex. MICROSCOPIE À SONDE À BALAYAGE
60Types particuliers de microscopie à sonde à balayage SPM ou appareils à cet effet; Composants essentiels de ceux-ci
24Microscopie à forces atomiques AFM ou appareils à cet effet, p.ex. sondes AFM
38Sondes, leur fabrication ou leur instrumentation correspondante, p.ex. supports
40Sondes conductrices
B23K 26/16
BTECHNIQUES INDUSTRIELLES; TRANSPORTS
23MACHINES-OUTILS; TRAVAIL DES MÉTAUX NON PRÉVU AILLEURS
KBRASAGE OU DÉBRASAGE; SOUDAGE; REVÊTEMENT OU PLACAGE PAR BRASAGE OU SOUDAGE; DÉCOUPAGE PAR CHAUFFAGE LOCALISÉ, p.ex. DÉCOUPAGE AU CHALUMEAU; TRAVAIL PAR RAYON LASER
26Travail par rayon laser, p.ex. soudage, découpage ou perçage 
16Enlèvement de résidus, p.ex. des particules ou des vapeurs produites pendant le traitement de la pièce à travailler
H01J 49/04
HÉLECTRICITÉ
01ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
JTUBES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE OU LAMPES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE
49Spectromètres pour particules ou tubes séparateurs de particules
02Détails
04Dispositions pour introduire ou extraire les échantillons devant être analysés, p.ex. fermetures étanches au vide; Dispositions pour le réglage externe des composants électronoptiques ou ionoptiques
H01J 49/40
HÉLECTRICITÉ
01ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
JTUBES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE OU LAMPES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE
49Spectromètres pour particules ou tubes séparateurs de particules
26Spectromètres de masse ou tubes séparateurs de masse
34Spectromètres dynamiques
40Spectromètres à temps de vol
CPC
B23K 26/16
BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
26Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
16Removal of by-products, e.g. particles or vapours produced during treatment of a workpiece
G01Q 30/02
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
QSCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
30Auxiliary means serving to assist or improve the scanning probe techniques or apparatus, e.g. display or data processing devices
02Non-SPM analysing devices, e.g. SEM [Scanning Electron Microscope], spectrometer or optical microscope
G01Q 60/40
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
QSCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
60Particular types of SPM [Scanning Probe Microscopy] or microscopes; Essential components thereof
24AFM [Atomic Force Microscopy] or apparatus therefor, e.g. AFM probes
38Probes, their manufacture, or their related instrumentation, e.g. holders
40Conductive probes
H01J 49/0031
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
49Particle spectrometers or separator tubes
0027Methods for using particle spectrometers
0031Step by step routines describing the use of the apparatus
H01J 49/0418
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
49Particle spectrometers or separator tubes
02Details
04Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components
0409Sample holders or containers
0418for laser desorption, e.g. matrix-assisted laser desorption/ionisation [MALDI], surface enhanced laser desorption/ionisation [SELDI] plates
H01J 49/40
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
49Particle spectrometers or separator tubes
26Mass spectrometers or separator tubes
34Dynamic spectrometers
40Time-of-flight spectrometers
Déposants BOARD OF SUPERVISORS OF LOUISIANA STATE UNIVERSITY AND AGRICULTURAL AND MECHANICAL COLLEGE
BOARD OF SUPERVISORS OF LOUISIANA STATE UNIVERSITY
Inventeurs Kermit King Murray
Suman Ghorai
Chinthaka Aravinda Seneviratne
Mandataires Thomas|Horstmeyer, LLP
Titre
(EN) Tip enhanced laser assisted sample transfer for biomolecule mass spectrometry
Abrégé
(EN)

Disclosed are various embodiments for transferring molecules from a surface for mass spectrometry and other sample analysis methods, and the like. A laser is focused onto a tip of an atomic force microscope to remove and capture a quantity of molecules from the surface, so they can be transferred to a mass spectrometer or another instrument for analysis.


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