Traitement en cours

Veuillez attendre...

Paramétrages

Paramétrages

Aller à Demande

1. WO2016112171 - TRANSFERT D'ÉCHANTILLON ASSISTÉ PAR LASER À POINTE AMÉLIORÉE, POUR SPECTROMÉTRIE DE MASSE DE BIOMOLÉCULE

Numéro de publication WO/2016/112171
Date de publication 14.07.2016
N° de la demande internationale PCT/US2016/012449
Date du dépôt international 07.01.2016
CIB
B82B 3/00 2006.1
BTECHNIQUES INDUSTRIELLES; TRANSPORTS
82NANOTECHNOLOGIE
BNANOSTRUCTURES FORMÉES PAR MANIPULATION D’ATOMES, DE MOLÉCULES OU D’ENSEMBLES LIMITÉS D’ATOMES OU DE MOLÉCULES UN À UN COMME DES UNITÉS INDIVIDUELLES; LEUR FABRICATION OU LEUR TRAITEMENT
3Fabrication ou traitement des nanostructures par manipulation d’atomes ou de molécules, ou d’ensembles limités d’atomes ou de molécules un à un comme des unités individuelles
B23K 26/00 2014.1
BTECHNIQUES INDUSTRIELLES; TRANSPORTS
23MACHINES-OUTILS; TRAVAIL DES MÉTAUX NON PRÉVU AILLEURS
KBRASAGE OU DÉBRASAGE; SOUDAGE; REVÊTEMENT OU PLACAGE PAR BRASAGE OU SOUDAGE; DÉCOUPAGE PAR CHAUFFAGE LOCALISÉ, p.ex. DÉCOUPAGE AU CHALUMEAU; TRAVAIL PAR RAYON LASER
26Travail par rayon laser, p.ex. soudage, découpage ou perçage 
G01Q 60/24 2010.1
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
QTECHNIQUES OU APPAREILS À SONDE À BALAYAGE; APPLICATIONS DES TECHNIQUES DE SONDE À BALAYAGE, p.ex. MICROSCOPIE À SONDE À BALAYAGE
60Types particuliers de microscopie à sonde à balayage SPM ou appareils à cet effet; Composants essentiels de ceux-ci
24Microscopie à forces atomiques AFM ou appareils à cet effet, p.ex. sondes AFM
CPC
B23K 26/16
BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
26Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
16Removal of by-products, e.g. particles or vapours produced during treatment of a workpiece
G01Q 30/02
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
QSCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
30Auxiliary means serving to assist or improve the scanning probe techniques or apparatus, e.g. display or data processing devices
02Non-SPM analysing devices, e.g. SEM [Scanning Electron Microscope], spectrometer or optical microscope
G01Q 60/40
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
QSCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
60Particular types of SPM [Scanning Probe Microscopy] or microscopes; Essential components thereof
24AFM [Atomic Force Microscopy] or apparatus therefor, e.g. AFM probes
38Probes, their manufacture, or their related instrumentation, e.g. holders
40Conductive probes
H01J 49/0031
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
49Particle spectrometers or separator tubes
0027Methods for using particle spectrometers
0031Step by step routines describing the use of the apparatus
H01J 49/0418
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
49Particle spectrometers or separator tubes
02Details
04Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components
0409Sample holders or containers
0418for laser desorption, e.g. matrix-assisted laser desorption/ionisation [MALDI], surface enhanced laser desorption/ionisation [SELDI] plates
H01J 49/40
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
49Particle spectrometers or separator tubes
26Mass spectrometers or separator tubes
34Dynamic spectrometers
40Time-of-flight spectrometers
Déposants
  • BOARD OF SUPERVISORS OF LOUISIANA STATE UNIVERSITY AND AGRICULTURAL AND MECHANICAL COLLEGE [US]/[US]
Inventeurs
  • MURRAY, Kermit, King
  • GHORAI, Suman
  • SENEVERATNE, Chinthaka, Aravinda
Mandataires
  • MAGARO, Mark, E.
Données relatives à la priorité
62/100,71407.01.2015US
Langue de publication Anglais (en)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) TIP ENHANCED LASER ASSISTED SAMPLE TRANSFER FOR BIOMOLECULE MASS SPECTROMETRY
(FR) TRANSFERT D'ÉCHANTILLON ASSISTÉ PAR LASER À POINTE AMÉLIORÉE, POUR SPECTROMÉTRIE DE MASSE DE BIOMOLÉCULE
Abrégé
(EN) Disclosed are various embodiments for transferring molecules from a surface for mass spectrometry and other sample analysis methods, and the like. A laser is focused onto a tip of an atomic force microscope to remove and capture a quantity of molecules from the surface, so they can be transferred to a mass spectrometer or another instrument for analysis.
(FR) L'invention concerne divers modes de réalisation pour transférer des molécules à partir d'une surface en vue d'exécuter une spectrométrie de masse et d'autres procédés d'analyse d'échantillon, et similaires. Un laser est concentré sur une pointe d'un microscope à force atomique pour retirer et capturer une quantité de molécules à partir de la surface, de sorte à les transférer à un spectromètre de masse ou un autre instrument d'analyse.
Related patent documents
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international