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Paramétrages

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1. CN113330481 - 用于使用张量分解及奇异值分解检验的系统及方法

Office
Chine
Numéro de la demande 202080009814.5
Date de la demande 24.01.2020
Numéro de publication 113330481
Date de publication 31.08.2021
Type de publication A
CIB
G06T 7/00
GPHYSIQUE
06CALCUL; COMPTAGE
TTRAITEMENT OU GÉNÉRATION DE DONNÉES D'IMAGE, EN GÉNÉRAL
7Analyse d'image
G06T 5/00
GPHYSIQUE
06CALCUL; COMPTAGE
TTRAITEMENT OU GÉNÉRATION DE DONNÉES D'IMAGE, EN GÉNÉRAL
5Amélioration ou restauration d'image
G01N 21/95
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
84Systèmes spécialement adaptés à des applications particulières
88Recherche de la présence de criques, de défauts ou de souillures
95caractérisée par le matériau ou la forme de l'objet à analyser
CPC
G06T 7/001
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
7Image analysis
0002Inspection of images, e.g. flaw detection
0004Industrial image inspection
001using an image reference approach
G06T 2207/30148
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
2207Indexing scheme for image analysis or image enhancement
30Subject of image; Context of image processing
30108Industrial image inspection
30148Semiconductor; IC; Wafer
G01N 21/9501
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
84Systems specially adapted for particular applications
88Investigating the presence of flaws or contamination
95characterised by the material or shape of the object to be examined
9501Semiconductor wafers
H04N 19/126
HELECTRICITY
04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
19Methods or arrangements for coding, decoding, compressing or decompressing digital video signals
10using adaptive coding
102characterised by the element, parameter or selection affected or controlled by the adaptive coding
124Quantisation
126Details of normalisation or weighting functions, e.g. normalisation matrices or variable uniform quantisers
H04N 19/60
HELECTRICITY
04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
19Methods or arrangements for coding, decoding, compressing or decompressing digital video signals
60using transform coding
Déposants 科磊股份有限公司
Inventeurs N·帕特威瑞
R·威灵福德
J·A·史密斯
李晓春
V·图马科夫
B·布拉尔
Mandataires 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287
Données relatives à la priorité 16744301 16.01.2020 US
62/797,581 28.01.2019 US
62/905,063 24.09.2019 US
Titre
(ZH) 用于使用张量分解及奇异值分解检验的系统及方法
Abrégé
(ZH)
本发明公开一种样本特性化系统。在实施例中,所述样本特性化系统包含通信地耦合到检验子系统的控制器,所述控制器包含经配置以执行存储于存储器中的程序指令集的一或多个处理器,所述程序指令集经配置以导致所述一或多个处理器:获取样本的一或多个目标图像帧;利用所述一或多个所获取目标图像帧来产生目标张量;对所述目标张量执行第一组的一或多个分解过程以形成产生包含一或多个参考图像帧的一或多个参考张量;识别所述一或多个目标图像帧与所述一或多个参考图像帧之间的一或多个差异;及基于所述一或多个所识别差异来确定所述样本的一或多个特性。