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1. (WO2019066993) WARPAGE MITIGATION STRUCTURES CREATED ON SUBSTRATE USING HIGH THROUGHPUT ADDITIVE MANUFACTURING
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Nº de publicación: WO/2019/066993 Nº de la solicitud internacional: PCT/US2017/054677
Fecha de publicación: 04.04.2019 Fecha de presentación de la solicitud internacional: 30.09.2017
CIP:
H01L 23/367 (2006.01) ,H01L 23/04 (2006.01) ,H01L 23/00 (2006.01)
H ELECTRICIDAD
01
ELEMENTOS ELECTRICOS BASICOS
L
DISPOSITIVOS SEMICONDUCTORES; DISPOSITIVOS ELECTRICOS DE ESTADO SOLIDO NO PREVISTOS EN OTRO LUGAR
23
Detalles de dispositivos semiconductores o de otros dispositivos de estado sólido
34
Disposiciones para la refrigeración, el calentamiento, la ventilación o la compensación de la temperatura
36
Selección de materiales, o su forma, para facilitar la refrigeración o el calentamiento, p. ej. disipadores de calor
367
Refrigeración facilitada por la forma del dispositivo
H ELECTRICIDAD
01
ELEMENTOS ELECTRICOS BASICOS
L
DISPOSITIVOS SEMICONDUCTORES; DISPOSITIVOS ELECTRICOS DE ESTADO SOLIDO NO PREVISTOS EN OTRO LUGAR
23
Detalles de dispositivos semiconductores o de otros dispositivos de estado sólido
02
Contenedores; Sellado
04
caracterizados por la forma
H ELECTRICIDAD
01
ELEMENTOS ELECTRICOS BASICOS
L
DISPOSITIVOS SEMICONDUCTORES; DISPOSITIVOS ELECTRICOS DE ESTADO SOLIDO NO PREVISTOS EN OTRO LUGAR
23
Detalles de dispositivos semiconductores o de otros dispositivos de estado sólido
Solicitantes:
EID, Feras [LB/US]; US
INTEL CORPORATION [US/US]; 2200 Mission College Boulevard Santa Clara, California 95054, US
Personas inventoras:
EID, Feras; US
Mandataria/o:
ROJO, Estiven; US
BRASK, Justin K.; US
AUYEUNG, Al; US
BERNADICOU, Michael A.; US
BLAIR, Steven R.; US
BLANK, Eric S.; US
COFIELD, Michael A.; US
DANSKIN, Timothy A.; US
HALEVA, Aaron S.; US
MAKI, Nathan R.; US
MARLINK, Jeffrey S.; US
MOORE, Michael S.; US
PARKER, Wesley E.; US
PUGH, Joseph A.; US
RASKIN, Vladimir; US
STRAUSS, Ryan N.; US
WANG, Yuke; US
YATES, Steven D.; US
SULLIVAN, Stephen G.; US
Datos de prioridad:
Título (EN) WARPAGE MITIGATION STRUCTURES CREATED ON SUBSTRATE USING HIGH THROUGHPUT ADDITIVE MANUFACTURING
(FR) STRUCTURES D'ATTÉNUATION DE GAUCHISSEMENT CRÉÉES SUR UN SUBSTRAT À L'AIDE D'UNE FABRICATION ADDITIVE À HAUT RENDEMENT
Resumen:
(EN) Device package and method of forming a device package are described. The device package has a substrate with dies disposed on the substrate. Each die has a bottom surface that is electrically coupled to the substrate and a top surface. The device package further includes a plurality of stiffeners disposed directly on the substrate. The stiffeners may be directly attached to a top surface of the substrate without an adhesive layer. The device package may include stiffeners with one or more different sizes and shapes, including at least one of a rectangular stiffener, a picture frame stiffener, a L-shaped stiffener, a H-shaped stiffener, and a round pillar stiffener. The device package may have the stiffeners disposed on the top surface of the substrate using a cold spray process. The device package may also include a mold layer formed around and over the dies, the stiffeners, and the substrate.
(FR) L'invention concerne un boîtier de dispositif et un procédé de formation de boîtier de dispositif. Le boîtier de dispositif a un substrat avec des puces disposées sur le substrat. Chaque puce a une surface inférieure qui est électriquement couplée au substrat et une surface supérieure. Le boîtier de dispositif comprend en outre une pluralité de raidisseurs disposés directement sur le substrat. Les raidisseurs peuvent être directement fixés à une surface supérieure du substrat sans couche adhésive. Le boîtier de dispositif peut comprendre des raidisseurs ayant une ou plusieurs tailles et formes différentes, comprenant au moins un élément parmi un raidisseur rectangulaire, un raidisseur en forme de cadre d'image, un raidisseur en forme de L, un raidisseur en forme de H, et un raidisseur en forme de pilier rond. Le boîtier de dispositif peut comporter les raidisseurs disposés sur la surface supérieure du substrat à l'aide d'un procédé de pulvérisation à froid. Le boîtier de dispositif peut également comprendre une couche de moule formée autour et au-dessus des puces, des raidisseurs et du substrat.
front page image
Estados designados: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Oficina Eurasiática de Patentes (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Oficina Europea de Patentes (OEP) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organización Africana de la Propiedad Intelectual (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Idioma de publicación: Inglés (EN)
Idioma de la solicitud: Inglés (EN)