Colecciones nacionales e internacionales de patentes
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1. (WO2019064686) EDDY CURRENT DETECTION DEVICE AND EDDY CURRENT DETECTION METHOD
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Nº de publicación: WO/2019/064686 Nº de la solicitud internacional: PCT/JP2018/019592
Fecha de publicación: 04.04.2019 Fecha de presentación de la solicitud internacional: 22.05.2018
CIP:
G01N 27/90 (2006.01) ,G21F 5/12 (2006.01) ,G21F 9/36 (2006.01)
G FISICA
01
METROLOGIA; ENSAYOS
N
INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS
27
Investigación o análisis de materiales mediante el empleo de medios eléctricos, electroquímicos o magnéticos
72
investigando variables magnéticas
82
para investigar la presencia de grietas
90
utilizando las corrientes de Foucault
G FISICA
21
FISICA NUCLEAR; TECNICA NUCLEAR
F
PROTECCION CONTRA LOS RAYOS X, RAYOS GAMMA, RADIACIONES CORPUSCULARES O BOMBARDEOS DE PARTICULAS; TRATAMIENTO DE MATERIALES CONTAMINADOS POR LA RADIACTIVIDAD; DISPOSICIONES PARA LA DESCONTAMINACION
5
Recipientes blindados portátiles o transportables
06
Detalles o accesorios de los recipientes
12
Dispositivos obturadores para recipientes; Disposiciones para su estanqueidad
G FISICA
21
FISICA NUCLEAR; TECNICA NUCLEAR
F
PROTECCION CONTRA LOS RAYOS X, RAYOS GAMMA, RADIACIONES CORPUSCULARES O BOMBARDEOS DE PARTICULAS; TRATAMIENTO DE MATERIALES CONTAMINADOS POR LA RADIACTIVIDAD; DISPOSICIONES PARA LA DESCONTAMINACION
9
Tratamiento de materiales contaminados por la radiactividad; Disposiciones a este efecto para la descontaminación
28
Tratamiento de sólidos
34
Medios para desembarazarse de residuos sólidos
36
por empaquetado; por embalaje
Solicitantes:
日立造船株式会社 HITACHI ZOSEN CORPORATION [JP/JP]; 大阪府大阪市住之江区南港北1丁目7番89号 7-89, Nanko-kita 1-chome, Suminoe-ku, Osaka-shi, Osaka 5598559, JP
日本電測機株式会社 NIHON DENSOKUKI CO., LTD. [JP/JP]; 福岡県北九州市八幡西区千代ヶ崎1丁目13-20 13-20, Chiyogasaki 1-chome, Yahatanishi-ku, Kitakyushu-shi, Fukuoka 8070803, JP (US)
Personas inventoras:
荒井 浩成 ARAI Hiroaki; JP
秦 彰宏 SHIN Akihiro; JP
山田 隆明 YAMADA Takaaki; JP
東 弘 AZUMA Hiroshi; JP
Mandataria/o:
特許業務法人森本国際特許事務所 MORIMOTO INT'L PATENT OFFICE; 大阪府大阪市西区靭本町1丁目11番7号信濃橋三井ビルディング3階 SHINANOBASHI MITSUI BLDG. 3rd Floor, 11-7, Utsubohonmachi 1-chome, Nishi-ku, Osaka-shi, Osaka 5500004, JP
Datos de prioridad:
2017-18553327.09.2017JP
Título (EN) EDDY CURRENT DETECTION DEVICE AND EDDY CURRENT DETECTION METHOD
(FR) DISPOSITIF DE DÉTECTION DE COURANT DE FOUCAULT ET PROCÉDÉ DE DÉTECTION DE COURANT DE FOUCAULT
(JA) 渦電流探傷装置および渦電流探傷方法
Resumen:
(EN) Provided is an eddy current detection device which adequately removes noise from a detection signal. A magnetic field is applied to an article to be inspected, by means of a magnetic field-forming magnet 60. The magnetic flux density of the magnetic field generated by the magnetic field-forming magnet 60 is set to a value having a predetermined range, according to the distance between the magnetic field-forming magnet 60 and detection surface 55, and the thickness of the object 30 being inspected.
(FR) L'invention concerne un dispositif de détection de courant de Foucault qui élimine de manière adéquate le bruit d'un signal de détection. Un champ magnétique est appliqué à un article à inspecter, au moyen d'un aimant de formation de champ magnétique (60). La densité de flux magnétique du champ magnétique généré par l'aimant de formation de champ magnétique (60) est réglée sur une valeur présentant une plage prédéterminée, en fonction de la distance entre l'aimant de formation de champ magnétique (60) et une surface de détection (55), et l'épaisseur de l'objet (30) en cours d'inspection.
(JA) 本発明は検出信号からノイズが十分に除去される渦電流探傷装置を提供する。磁界形成用磁石60によって検査対象物30に磁界が印加される。その磁界形成用磁石60によって生じる磁界の磁束密度は、磁界形成用磁石60と検出面55との距離および検査対象物30の厚みに応じた所定範囲の値に設定される。
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Estados designados: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organización Regional Africana de la Propiedad Intelectual (ORAPI) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Organización Eurasiática de Patentes (OEAP) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Oficina Europea de Patentes (OEP) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organización Africana de la Propiedad Intelectual (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Idioma de publicación: Japonés (JA)
Idioma de la solicitud: Japonés (JA)