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1. (WO2019050155) METHOD FOR QUANTITATIVELY ANALYZING TRACE AMOUNTS OF ANTISTATIC AGENT
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Nº de publicación: WO/2019/050155 Nº de la solicitud internacional: PCT/KR2018/008274
Fecha de publicación: 14.03.2019 Fecha de presentación de la solicitud internacional: 23.07.2018
CIP:
G01N 30/72 (2006.01) ,G01N 30/86 (2006.01) ,G01N 30/88 (2006.01)
G FISICA
01
METROLOGIA; ENSAYOS
N
INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS
30
Investigación o análisis de materiales por separación en constituyentes utilizando la adsorción, la absorción o fenómenos similares o utilizando el intercambio iónico, p. ej. la cromatografía
02
Cromatografía sobre columna
62
Detectores especialmente adaptados a este efecto
72
Espectrómetros de masa
G FISICA
01
METROLOGIA; ENSAYOS
N
INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS
30
Investigación o análisis de materiales por separación en constituyentes utilizando la adsorción, la absorción o fenómenos similares o utilizando el intercambio iónico, p. ej. la cromatografía
02
Cromatografía sobre columna
86
Análisis de las señales
G FISICA
01
METROLOGIA; ENSAYOS
N
INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS
30
Investigación o análisis de materiales por separación en constituyentes utilizando la adsorción, la absorción o fenómenos similares o utilizando el intercambio iónico, p. ej. la cromatografía
02
Cromatografía sobre columna
88
Sistemas integrados de análisis, especialmente adaptados a este efecto, no cubiertos por uno solo de los grupos G01N30/04-G01N30/86219
Solicitantes:
주식회사 엘지화학 LG CHEM, LTD. [KR/KR]; 서울시 영등포구 여의대로 128 128, Yeoui-daero Yeongdeungpo-Gu Seoul 07336, KR
Personas inventoras:
남문자 NAM, Moon Ja; KR
김병현 KIM, Byoung Hyoun; KR
진미경 JIN, Mi Kyoung; KR
Mandataria/o:
김애라 KIM, Aera; KR
Datos de prioridad:
10-2017-011601411.09.2017KR
Título (EN) METHOD FOR QUANTITATIVELY ANALYZING TRACE AMOUNTS OF ANTISTATIC AGENT
(FR) PROCÉDÉ D'ANALYSE QUANTITATIVE DE QUANTITÉS DE TRACE D'AGENT ANTISTATIQUE
(KO) 미량의 대전방지제의 정량분석방법
Resumen:
(EN) The present invention relates to a method for analyzing trace amounts of an antistatic agent, Atmer 163 (bis(2-hydroxyethyl)alkylamine) for example, used to prevent static. Whether a trace amount of an antistatic agent is contained and the content of the antistatic agent, can be analyzed at a lower limit of detection (LOD) during a process for producing a supported catalyst including the antistatic agent by using HPLC/MS to perform the analysis using neat and non-diluted hexane filtrate.
(FR) La présente invention concerne un procédé d'analyse de quantités de trace d'un agent antistatique, Atmer 163 (bis (2-hydroxyéthyl)alkylamine) par exemple, utilisé pour empêcher l'électricité statique. Il est possible d'analyser si une quantité de trace d'un agent antistatique est contenue et la teneur en agent antistatique à une limite de détection (LOD) inférieure pendant un procédé de production d'un catalyseur supporté incluant l'agent antistatique en utilisant une CLHP/SM pour effectuer l'analyse à l'aide d'un filtrat d'hexane pur et non dilué.
(KO) 본 발명은 정전기 방지용으로 사용되는 대전방지제, 예를 들어, Atmer 163(비스(2-하이드록실에틸)알킬아민)(bis(2-hydroxyethyl)alkylamine)의 정량분석방법에 관한 것으로서, 대전방지제를 포함하는 담지 촉매 제조 공정 중 헥산 여액을 희석하지 않고 니트(neat)로 HPLC/MS로 분석함으로써 검출 한계(LOD)를 낮춰 미량의 대전방지제의 함유 여부 및 함량을 분석할 수 있다.
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Estados designados: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Oficina Eurasiática de Patentes (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Oficina Europea de Patentes (OEP) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organización Africana de la Propiedad Intelectual (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Idioma de publicación: Coreano (KO)
Idioma de la solicitud: Coreano (KO)