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1. (WO2019049837) OBSERVATION DEVICE
Datos bibliográficos más recientes de la Oficina InternacionalFormular observación

Nº de publicación: WO/2019/049837 Nº de la solicitud internacional: PCT/JP2018/032657
Fecha de publicación: 14.03.2019 Fecha de presentación de la solicitud internacional: 03.09.2018
CIP:
G02B 21/06 (2006.01) ,C12M 1/34 (2006.01) ,G03B 15/00 (2006.01)
G FISICA
02
OPTICA
B
ELEMENTOS, SISTEMAS O APARATOS OPTICOS
21
Microscopios
06
Medios para iluminar una muestra
C QUIMICA; METALURGIA
12
BIOQUIMICA; CERVEZA; BEBIDAS ALCOHOLICAS; VINO; VINAGRE; MICROBIOLOGIA; ENZIMOLOGIA; TECNICAS DE MUTACION O DE GENETICA
M
EQUIPOS PARA ENZIMOLOGIA O MICROBIOLOGIA
1
Equipos para enzimología o microbiología
34
Medida o ensayo de detección de las condiciones del medio, p. ej. por contadores de colonias
G FISICA
03
FOTOGRAFIA; CINEMATOGRAFIA; TECNICAS ANALOGAS QUE UTILIZAN ONDAS DISTINTAS DE LAS ONDAS OPTICAS; ELECTROGRAFIA; HOLOGRAFIA
B
APARATOS O DISPOSITIVOS PARA HACER FOTOGRAFIAS, PARA PROYECTARLAS O VERLAS; APARATOS O DISPOSITIVOS QUE UTILIZAN TECNICAS ANALOGAS UTILIZANDO ONDAS DIFERENTES DE LAS ONDAS OPTICAS; SUS ACCESORIOS
15
Procedimientos especiales para hacer fotografías; Aparatos para este efecto
Solicitantes:
オリンパス株式会社 OLYMPUS CORPORATION [JP/JP]; 東京都八王子市石川町2951番地 2951 Ishikawa-machi, Hachioji-shi, Tokyo 1928507, JP
Personas inventoras:
土肥 将人 DOHI, Masahito; JP
Mandataria/o:
上田 邦生 UEDA, Kunio; JP
柳 順一郎 YANAGI, Junichiro; JP
小栗 眞由美 OGURI, Mayumi; JP
竹内 邦彦 TAKEUCHI, Kuniyoshi; JP
Datos de prioridad:
2017-16990605.09.2017JP
Título (EN) OBSERVATION DEVICE
(FR) DISPOSITIF D'OBSERVATION
(JA) 観察装置
Resumen:
(EN) The present invention acquires a detailed image of a specimen within a narrow space and is compatible with containers of various sizes. Provided is an observation device (1) comprising: an objective lens (7) disposed below a specimen container (3), the objective lens (7) collecting light from a specimen (S) via a bottom part (3a); a planar light source (9) disposed at the pupil position in the optical path of illumination light of the objective lens (7), the surface light source (9) causing the illumination light to be transmitted through the bottom part (3a) from below and impinge within the specimen container (3), and being configured such that a light-emission pattern pertaining to the light-emission position and light-emission range of the illumination light can be changed in a direction that intersects the emission light axis; an imaging optical system (11) that captures, from below the specimen container (3), an image of the light from the specimen (S) that was generated due to irradiation of the illumination light from the planar light source (9) and was collected by the objective lens (7); and a recording computation unit (23) that corrects the light-emission pattern of the planar light source (9) on the basis of at least one parameter from among the brightness, the contrast, and the relationship between pixel count and luminance in relation to the light-emission pattern of the planar light source (9) and to the image acquired by the imaging optical system (11) using the light-emission pattern.
(FR) La présente invention acquiert une image détaillée d'un échantillon dans un espace étroit et est compatible avec des contenants de différentes tailles. L'invention concerne un dispositif d'observation (1) comprenant : une lentille d'objectif (7) placée au-dessous d'un contenant à échantillon (3), la lentille d'objectif (7) collectant la lumière provenant d'un échantillon (S) par l'intermédiaire d'une partie inférieure (3a) ; une source de lumière plane (9) placée à la position de pupille dans le trajet optique de lumière d'éclairage de la lentille d'objectif (7), la source de lumière de surface (9) amenant la lumière d'éclairage à être transmise à travers la partie inférieure (3a) par le bas et à être incidente à l'intérieur du contenant à échantillon (3), et étant conçue de sorte qu'un motif d'émission de lumière appartenant à la position d'émission de lumière et à la plage d'émission de lumière de la lumière d'éclairage puisse être changé dans une direction qui coupe l'axe de lumière d'émission ; un système optique d'imagerie (11) qui capture, depuis le dessous du contenant à échantillon (3), une image de la lumière provenant de l'échantillon (S) qui a été générée en raison de l'irradiation de la lumière d'éclairage provenant de la source de lumière plane (9) et qui a été collecté par la lentille d'objectif (7) ; et une unité de calcul d'enregistrement (23) qui corrige le motif d'émission de lumière de la source de lumière plane (9) en fonction d'au moins un paramètre parmi la luminosité, le contraste et la relation entre le nombre de pixels et la luminance par rapport au motif d'émission de lumière de la source de lumière plane (9) et à l'image acquise par le système optique d'imagerie (11) à l'aide du motif d'émission de lumière.
(JA) 様々な形状の容器に対応でき、狭い空間内で標本の精細な画像を取得する。標本容器(3)の下方に配置され、標本(S)からの光を底部(3a)を介して集光する対物レンズ(7)と、対物レンズ(7)の照明光の光路における瞳位置に配置され、下方から底部(3a)を透過させて標本容器(3)内に照明光を入射させ、照明光の発光位置及び発光範囲に関する発光パターンを射出光軸に交差する方向に変更可能な面光源(9)と、面光源(9)からの照明光が照射されることにより発生し対物レンズ(7)により集光された標本(S)からの光を標本容器(3)の下方で撮影する撮像光学系(11)と、面光源(9)の発光パターンとその発光パターンで撮像光学系(11)により取得される画像の明るさ、コントラスト及び画素数と輝度との関係の少なくとも1つとに基づいて、面光源(9)の発光パターンを補正する記録演算部(23)とを備える観察装置(1)を提供する。
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Estados designados: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organización Regional Africana de la Propiedad Intelectual (ORAPI) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Organización Eurasiática de Patentes (OEAP) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Oficina Europea de Patentes (OEP) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organización Africana de la Propiedad Intelectual (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Idioma de publicación: Japonés (JA)
Idioma de la solicitud: Japonés (JA)