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1. (WO2019047986) IMAGE-TYPE ELECTRON SPIN ANALYSER AND ELECTRON OPTICAL SYSTEM
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Nº de publicación: WO/2019/047986 Nº de la solicitud internacional: PCT/CN2018/111358
Fecha de publicación: 14.03.2019 Fecha de presentación de la solicitud internacional: 23.10.2018
CIP:
G01T 1/32 (2006.01)
G FISICA
01
METROLOGIA; ENSAYOS
T
MEDIDA DE RADIACIONES NUCLEARES O DE RAYOS X
1
Medida de los rayos X, rayos gamma, radiaciones corpusculares o de las radiaciones cósmicas
32
Medida de la polarización de partículas
Solicitantes:
中国科学院上海微系统与信息技术研究所 SHANGHAI INSTITUTE OF MICROSYSTEM AND INFORMATION TECHNOLOGY, CHINESE ACADEMY OF SCIENCES [CN/CN]; 中国上海市 长宁区长宁路865号 No.865, Changning Road, Changning District Shanghai 200050, CN
Personas inventoras:
乔山 QIAO, Shan; CN
Mandataria/o:
上海光华专利事务所(普通合伙) J.Z.M.C. PATENT AND TRADEMARK LAW OFFICE (GENERAL PARTNERSHIP); 中国上海市 杨浦区国定路335号5022室余明伟 YU, Mingwei Room 5022, No.335,Guo Ding Road Yang Pu District Shanghai 200433, CN
Datos de prioridad:
201710800610.307.09.2017CN
201810517125.X07.09.2017CN
Título (EN) IMAGE-TYPE ELECTRON SPIN ANALYSER AND ELECTRON OPTICAL SYSTEM
(FR) ANALYSEUR DE SPIN D'ÉLECTRONS DE TYPE IMAGE ET SYSTÈME OPTIQUE ÉLECTRONIQUE
(ZH) 一种图像型电子自旋分析器以及一种电子光学系统
Resumen:
(EN) An image-type electron spin analyser, comprising: an electron optical system, a scattering target (4) and a two-dimensional image-type electron detector (5), the electron optical system comprising a non-axisymmetric lens group and a magnetic field (6), the non-axisymmetric lens group being matched with the magnetic field (6) to enable movement tracks of incoming electrons and outgoing electrons to be mutually separated in order to increase the geometric degree of freedom of various parts of the spin analyser. The incoming electrons are deflected and imaged to a specific plane corresponding to the scattering target (4), and the electrons are imaged to the two-dimensional image-type electron detector (5), after being scattered by the scattering target (4), to form a two-dimensional electron intensity image, thereby implementing multi-channel measurement of electron spin. The introduction of non-axisymmetric lenses compensates for the asymmetry of electron optical properties of the magnetic field (6) on vertical and parallel magnetic field directions, reduces optical system aberrations, and enables electron optical system debugging to be simpler.
(FR) L'invention concerne un analyseur de spin d'électrons de type image, comprenant : un système optique électronique, une cible de diffusion et un détecteur d'électrons de type image bidimensionnelle, le système optique électronique comprenant un groupe de lentilles non axisymétriques et un champ magnétique, le groupe de lentilles non axisymétriques étant mis en correspondance avec le champ magnétique pour permettre à des pistes de déplacement d'électrons entrants et d'électrons sortants d'être mutuellement séparées afin d'accroître le degré de liberté géométrique de diverses parties de l'analyseur de spin. Les électrons entrants sont déviés et imagés sur un plan spécifique correspondant à la cible de diffusion, et les électrons sont imagés sur le détecteur d'électrons de type image bidimensionnelle, après avoir été diffusés par la cible de diffusion, pour former une image bidimensionnelle d'intensité électronique, ce qui permet de mettre en œuvre une mesure multicanal de spin d'électrons. L'introduction de lentilles non axisymétriques compense l'asymétrie des propriétés optiques d'électrons de champ magnétique sur des directions de champ magnétique verticale et parallèle, réduit les aberrations du système optique, et permet de simplifier le débogage du système optique électronique.
(ZH) 一种图像型电子自旋分析器,包括:电子光学系统、散射靶(4)和二维图像型电子探测器(5);电子光学系统包括非轴对称透镜群和磁场(6),非轴对称透镜群与磁场(6)相配合使入射电子与出射电子的运动轨道相分离以增加自旋分析器各部件几何配置的自由度,将入射电子偏转并成像至与散射靶(4)相对应的特定平面处,并将由散射靶(4)散射后的电子成像在二维图像型电子探测器(5)上形成二维电子强度图像,从而实现电子自旋的多通道测量;非轴对称透镜的引入可以补偿磁场(6)电子光学特性在垂直及平行磁场方向的非对称性、减小光学系统的像差、并使电子光学系统的调试更为简单。
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Organización Africana de la Propiedad Intelectual (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Idioma de publicación: Chino (ZH)
Idioma de la solicitud: Chino (ZH)