Parte del contenido de esta aplicación no está disponible en este momento.
Si esta situación persiste, contáctenos aComentarios y contacto
1. (WO2019044917) DEVICE FOR ANALYZING CHLORINE CONCENTRATION, METHOD FOR ANALYZING CHLORINE CONCENTRATION, DEVICE FOR PRODUCING TITANIUM TETRACHLORIDE, AND METHOD FOR PRODUCING SPONGE TITANIUM
Datos bibliográficos más recientes de la Oficina InternacionalFormular observación

Nº de publicación: WO/2019/044917 Nº de la solicitud internacional: PCT/JP2018/031991
Fecha de publicación: 07.03.2019 Fecha de presentación de la solicitud internacional: 29.08.2018
CIP:
G01N 21/33 (2006.01) ,C01G 23/02 (2006.01) ,C22B 34/12 (2006.01)
G FISICA
01
METROLOGIA; ENSAYOS
N
INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS
21
Investigación o análisis de los materiales por la utilización de medios ópticos, es decir, utilizando rayos infrarrojos, visibles o ultravioletas
17
Sistemas en los que la luz incidente es modificada con arreglo a las propiedades del material examinado
25
Color; Propiedades espectrales, es decir, comparación del efecto del material sobre la luz para varias longitudes de ondas o varias bandas de longitudes de ondas diferentes
31
investigando el efecto relativo del material para las longitudes de ondas características de elementos o de moléculas específicas, p. ej. espectrometría de absorción atómica
33
utilizando la luz ultravioleta
C QUIMICA; METALURGIA
01
QUIMICA INORGANICA
G
COMPUESTOS QUE CONTIENEN METALES NO CUBIERTOS POR LAS SUBCLASES C01D O C01F155
23
Compuestos de titanio
02
Haluros de titanio
C QUIMICA; METALURGIA
22
METALURGIA ; ALEACIONES FERROSAS O NO FERROSAS; TRATAMIENTO DE ALEACIONES O METALES NO FERROSOS
B
PRODUCCION O AFINADO DE METALES; PRETRATAMIENTO DE MATERIAS PRIMAS
34
Obtención de metales refractarios
10
Obtención de titanio, circonio o hafnio
12
Obtención de titanio
Solicitantes:
東邦チタニウム株式会社 TOHO TITANIUM CO.,LTD. [JP/JP]; 神奈川県茅ヶ崎市茅ヶ崎三丁目3番5号 3-5,Chigasaki 3-chome,Chigasaki-shi, Kanagawa 2538510, JP
Personas inventoras:
山本 仁 YAMAMOTO,Masashi; JP
Mandataria/o:
アクシス国際特許業務法人 AXIS PATENT INTERNATIONAL; 東京都港区新橋二丁目6番2号 新橋アイマークビル Shimbashi i-mark Bldg., 6-2 Shimbashi 2-Chome, Minato-ku, Tokyo 1050004, JP
Datos de prioridad:
2017-16877201.09.2017JP
Título (EN) DEVICE FOR ANALYZING CHLORINE CONCENTRATION, METHOD FOR ANALYZING CHLORINE CONCENTRATION, DEVICE FOR PRODUCING TITANIUM TETRACHLORIDE, AND METHOD FOR PRODUCING SPONGE TITANIUM
(FR) DISPOSITIF D’ANALYSE DE CONCENTRATION DE CHLORE, PROCÉDÉ D’ANALYSE DE CONCENTRATION DE CHLORE, DISPOSITIF DE PRODUCTION DE TÉTRACHLORURE DE TITANE ET PROCÉDÉ DE PRODUCTION D’ÉPONGE DE TITANE
(JA) 塩素濃度分析装置、塩素濃度分析方法、四塩化チタンの製造装置及びスポンジチタンの製造方法
Resumen:
(EN) Provided is a device for analyzing chlorine concentration, comprising: a measurement cell 10 for housing chlorine-containing gas; a light-emitting unit 20 provided with a LED light source 21 for irradiating the chlorine-containing gas flowing through the measurement cell 10 with UV rays; a light-receiving unit 30 for receiving the UV rays transmitted through the measurement cell 10; and a calculation unit 50 for calculating the chlorine concentration in the chlorine-containing gas on the basis of an output signal from the light-receiving unit 30.
(FR) La présente invention concerne un dispositif d’analyse de concentration de chlore, comprenant : une cellule de mesure 10 pour contenir un gaz contenant du chlore ; une unité d’émission de lumière 20 pourvue d’une source de lumière à LED 21 pour irradier le gaz contenant du chlore s’écoulant à travers la cellule de mesure 10 avec des rayons UV ; une unité de réception de lumière 30 pour recevoir les rayons UV transmis à travers la cellule de mesure 10 ; et une unité de calcul 50 pour calculer la concentration de chlore dans le gaz contenant du chlore sur la base d’un signal de sortie provenant de l’unité de réception de lumière 30.
(JA) 塩素含有ガスを収容する測定セル10と、測定セル10内を流れる塩素含有ガスに対し、紫外線を照射するLED光源21を備える発光部20と、測定セル10を透過した紫外線を受光する受光部30と、受光部30からの出力信号に基づいて塩素含有ガス中の塩素濃度を演算する演算部50とを備える塩素濃度分析装置である。
front page image
Estados designados: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organización Regional Africana de la Propiedad Intelectual (ORAPI) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Organización Eurasiática de Patentes (OEAP) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Oficina Europea de Patentes (OEP) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organización Africana de la Propiedad Intelectual (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Idioma de publicación: Japonés (JA)
Idioma de la solicitud: Japonés (JA)