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1. (WO2019008964) INTERFEROMETER, FOURIER TRANSFORM SPECTROSCOPIC DEVICE, AND COMPONENT ANALYZING DEVICE
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Nº de publicación: WO/2019/008964 Nº de la solicitud internacional: PCT/JP2018/021192
Fecha de publicación: 10.01.2019 Fecha de presentación de la solicitud internacional: 01.06.2018
CIP:
G01J 3/45 (2006.01) ,G01N 21/35 (2014.01) ,G01B 9/02 (2006.01)
G FISICA
01
METROLOGIA; ENSAYOS
J
MEDIDA DE LA INTENSIDAD, DE LA VELOCIDAD, DEL ESPECTRO, DE LA POLARIZACION, DE LA FASE O DE CARACTERISTICAS DE IMPULSOS DE LA LUZ INFRARROJA, VISIBLE O ULTRAVIOLETA; COLORIMETRIA; PIROMETRIA DE RADIACIONES
3
Espectrometría; Espectrofotometría; Monocromadores; Medida del color
28
Estudio del espectro
45
Espectrometría por interferencia
G FISICA
01
METROLOGIA; ENSAYOS
N
INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS
21
Investigación o análisis de los materiales por la utilización de medios ópticos, es decir, utilizando rayos infrarrojos, visibles o ultravioletas
17
Sistemas en los que la luz incidente es modificada con arreglo a las propiedades del material examinado
25
Color; Propiedades espectrales, es decir, comparación del efecto del material sobre la luz para varias longitudes de ondas o varias bandas de longitudes de ondas diferentes
31
investigando el efecto relativo del material para las longitudes de ondas características de elementos o de moléculas específicas, p. ej. espectrometría de absorción atómica
35
utilizando la luz infrarroja
G FISICA
01
METROLOGIA; ENSAYOS
B
MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS
9
Instrumentos según se especifica en los subgrupos y caracterizados por la utilización de medios de medida ópticos
02
Interferómetros
Solicitantes:
国立研究開発法人産業技術総合研究所 NATIONAL INSTITUTE OF ADVANCED INDUSTRIAL SCIENCE AND TECHNOLOGY [JP/JP]; 東京都千代田区霞が関1丁目3番1号 3-1, Kasumigaseki 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008921, JP
Personas inventoras:
古川 祐光 FURUKAWA, Hiromitsu; JP
Mandataria/o:
稲葉 良幸 INABA, Yoshiyuki; JP
大貫 敏史 ONUKI, Toshifumi; JP
Datos de prioridad:
2017-13041003.07.2017JP
Título (EN) INTERFEROMETER, FOURIER TRANSFORM SPECTROSCOPIC DEVICE, AND COMPONENT ANALYZING DEVICE
(FR) INTERFÉROMÈTRE, DISPOSITIF SPECTROSCOPIQUE À TRANSFORMÉE DE FOURIER ET DISPOSITIF D'ANALYSE DE COMPOSANT
(JA) 干渉計、フーリエ変換分光装置及び成分分析装置
Resumen:
(EN) Provided are an interferometer, a Fourier transform spectroscopic device and a component analyzing device which are highly resistant to vibration, are inexpensive and compact, and have a high resolution. An interferometer 10 is provided with: a first polarizing element 13 which allows certain polarized light among incident light to pass; a birefringent crystal 14 which is arranged downstream of the first polarizing element 13 and is arranged rotatably about an axis of rotation in the incident direction of light emitted from the first polarizing element 13; a second polarizing element 15 which is arranged downstream of the birefringent crystal 14 and which allows certain polarized light among the light emitted from the birefringent crystal 14 to pass; and a light receiving element 17 which is arranged downstream of the second polarizing element 15 and which converts the light emitted from the second polarizing element 15 into an electrical signal; wherein the first polarizing element 13, the birefringent crystal 14, the second polarizing element 15 and the light receiving element 17 are arranged in a straight line.
(FR) L'invention concerne un interféromètre, un dispositif spectroscopique à transformée de Fourier et un dispositif d'analyse de composant qui sont hautement résistants aux vibrations, qui sont peu coûteux et compacts, et qui ont une résolution élevée. Un interféromètre (10) est pourvu : d'un premier élément de polarisation (13), qui permet à une certaine lumière polarisée au sein d'une lumière incidente de passer ; un cristal biréfringent (14), qui est disposé en aval du premier élément de polarisation (13) et qui est agencé de façon à pouvoir tourner autour d'un axe de rotation dans le sens d'incidence de la lumière émise par le premier élément de polarisation (13) ; un second élément polarisant (15), qui est disposé en aval du cristal biréfringent (14) et qui permet à une certaine lumière polarisée au sein de la lumière émise par le cristal biréfringent (14) de passer ; et un élément de réception de lumière (17), qui est disposé en aval du second élément de polarisation (15) et qui convertit la lumière émise par le second élément de polarisation (15) en un signal électrique ; le premier élément de polarisation (13), le cristal biréfringent (14), le second élément de polarisation (15) et l'élément de réception de lumière (17) étant disposés en ligne droite.
(JA) 耐振性が高く、安価で小型であり、分解能が高い干渉計、フーリエ変換分光装置及び成分分析装置を提供する。干渉計10は、入射された光のうち所定の偏光を通過させる第1偏光素子13と、第1偏光素子13の後段に配置され、第1偏光素子13から出射された光の入射方向を回転軸として回転可能に配置された複屈折結晶14と、複屈折結晶14の後段に配置され、複屈折結晶14から出射された光のうち所定の偏光を通過させる第2偏光素子15と、第2偏光素子15の後段に配置され、第2偏光素子15から出射された光を電気信号に変換する受光素子17と、を備え、第1偏光素子13、複屈折結晶14、第2偏光素子15及び受光素子17は、直線的に配置される。
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Estados designados: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Oficina Eurasiática de Patentes (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Oficina Europea de Patentes (OEP) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organización Africana de la Propiedad Intelectual (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Idioma de publicación: Japonés (JA)
Idioma de la solicitud: Japonés (JA)