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1. (WO2019001098) METHODS AND SYSTEMS FOR IMPROVED QUALITY INSPECTION
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Nº de publicación: WO/2019/001098 Nº de la solicitud internacional: PCT/CN2018/083352
Fecha de publicación: 03.01.2019 Fecha de presentación de la solicitud internacional: 17.04.2018
CIP:
G01N 21/892 (2006.01)
G FISICA
01
METROLOGIA; ENSAYOS
N
INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS
21
Investigación o análisis de los materiales por la utilización de medios ópticos, es decir, utilizando rayos infrarrojos, visibles o ultravioletas
84
Sistemas especialmente adaptados a aplicaciones particulares
88
Investigación de la presencia de grietas, de defectos o de manchas
89
en un material móvil, p. ej. del papel, de tejidos
892
caracterizada por la grieta, el defecto o la característica del objeto que se examina
Solicitantes:
MIDEA GROUP CO., LTD. [CN/CN]; B26-28F, Midea Headquarter Building, No. 6 Midea Avenue, Beijiao, Shunde Foshan, Guangdong 528311, CN
Personas inventoras:
WANG, Dongyan; US
GU, Haisong; US
Mandataria/o:
CHINA PAT INTELLECTUAL PROPERTY OFFICE; 2nd Floor, Zhongguancun Intellectual Property Building, Block B, No. 21 Haidian South Road Haidian District Beijing 100080, CN
Datos de prioridad:
15/633,44326.06.2017US
Título (EN) METHODS AND SYSTEMS FOR IMPROVED QUALITY INSPECTION
(FR) PROCÉDÉS ET SYSTÈMES D'INSPECTION DE QUALITÉ AMÉLIORÉE
Resumen:
(EN) A method of identifying product defects on a production line includes receiving data from a plurality of edge devices monitoring a product on a production line for product defects. The data includes unique perspectives of the product captured by the edge devices. The method further includes generating an overall view of the product by merging each unique perspective of the product captured by respective edge devices of the plurality, and comparing the overall view with characteristic (s) of the product. Based on the comparing, the method further includes determining whether a degree of difference between the overall view and the characteristic (s) satisfies one or more criteria, and upon determining that the degree of difference between the overall view and the characteristic (s) satisfies at least one criterion of the one or more criteria, recording and reporting a defect associated with the product according to the difference between the view and the characteristic (s).
(FR) La présente invention concerne un procédé d'identification des défauts d'un produit sur une ligne de production, le procédé comprenant la réception de données provenant d'une pluralité de dispositifs périphériques surveillant un produit sur une ligne de production pour des défauts de produit. Les données comprennent des perspectives uniques du produit capturées par les dispositifs périphériques. Le procédé comprend en outre la génération d'une vue globale du produit par la fusion de chaque perspective unique du produit capturées par des dispositifs périphériques respectifs de la pluralité, et la comparaison de la vue globale avec une ou plusieurs caractéristiques du produit. Sur la base de la comparaison, le procédé consiste en outre à déterminer si un degré de différence entre la vue globale et la ou les caractéristiques satisfait un ou plusieurs critères et, quand il est déterminé que le degré de différence entre la vue globale et la ou les caractéristiques satisfait au moins un critère parmi le ou les critères, à enregistrer et à signaler un défaut associé au produit en fonction de la différence entre la vue et la ou les caractéristiques.
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Estados designados: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Oficina Eurasiática de Patentes (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Oficina Europea de Patentes (OEP) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organización Africana de la Propiedad Intelectual (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Idioma de publicación: Inglés (EN)
Idioma de la solicitud: Inglés (EN)