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1. (WO2019000021) SPECIMEN CONTROL MEANS FOR PARTICLE BEAM MICROSCOPY
Datos bibliográficos más recientes de la Oficina Internacional    Formular observación

Nº de publicación: WO/2019/000021 Nº de la solicitud internacional: PCT/AU2018/050605
Fecha de publicación: 03.01.2019 Fecha de presentación de la solicitud internacional: 19.06.2018
CIP:
H01J 37/20 (2006.01) ,G01N 23/20025 (2018.01)
H ELECTRICIDAD
01
ELEMENTOS ELECTRICOS BASICOS
J
TUBOS DE DESCARGA ELECTRICA O LAMPARAS DE DESCARGA ELECTRICA
37
Tubos de descarga provistos de medios o de un material para ser expuestos a la descarga, p. ej. con el propósito de sufrir un examen o tratamiento
02
Detalles
20
Medios para soportar o colocar el objeto o el material; Medios para ajustar diafragmas o lentes asociadas al soporte
[IPC code unknown for ERROR IPC Code incorrect: invalid subgroup (0=>999999)!]
Solicitantes:
DANILATOS, Gerasimos Daniel [AU/AU]; AU
Personas inventoras:
DANILATOS, Gerasimos Daniel; AU
Datos de prioridad:
201790246026.06.2017AU
201890020022.01.2018AU
Título (EN) SPECIMEN CONTROL MEANS FOR PARTICLE BEAM MICROSCOPY
(FR) MOYEN DE GESTION D'ÉCHANTILLON POUR MICROSCOPIE À FAISCEAU DE PARTICULES
Resumen:
(EN) Specimen control means are disclosed for use with multipurpose particle beam instruments, such as with SEM, ESEM, TESEM, TEM, ETEM and ion microscopes. It provides a control stage located outside a chamber with a flexible wall that allows specimen movement inside the chamber. The same stage can open or close the bottom of the chamber base carrying a specimen stub, which is transferred to and from a conveyor belt or carousel supplied with a multitude of stubs filled with new specimens for examination. The chamber is further supplied with directed gas controls to regulate its gaseous environment. There is a supply of clean gas to maintain the instrument and specimen free of contamination, or to provide a reactant gas for microfabrication, or to enhance signal detection in a microscope. Stationary charged particle beam instruments are equipped with micro-mechanical specimen scanning for use in ultra-high resolution particle beam technologies.
(FR) L'invention concerne des moyens de gestion d'échantillon destinés à être utilisés avec des instruments à faisceau de particules à usages multiples, tels que des microscopes MEB, ESEM, TESEM, MET, ETEM et des microscopes ioniques. L'invention comprend un étage de commande situé à l'extérieur d'une chambre présentant une paroi souple qui permet un déplacement d'échantillon à l'intérieur de la chambre. Le même étage peut ouvrir ou fermer le fond de la base de la chambre transportant un porte-échantillon qui est transféré vers et à partir d'une bande transporteuse ou d'un carrousel alimenté par une multitude de supports remplis de nouveaux échantillons en vue de leur examen. La chambre est en outre alimentée par des commandes dirigées du gaz pour réguler son environnement gazeux. Une alimentation en gaz propre vise à maintenir l'instrument et l'échantillon en dehors de toute contamination, ou à produire un gaz réactif pour une microfabrication, ou pour améliorer la détection de signal dans un microscope. Des instruments à faisceau de particules chargées fixes sont équipés d'un balayage d'échantillon micro-mécanique destiné à être utilisé dans des technologies de faisceau de particules à très haute résolution.
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Estados designados: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
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Organización Africana de la Propiedad Intelectual (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Idioma de publicación: Inglés (EN)
Idioma de la solicitud: Inglés (EN)