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1. (WO2018225745) EXTERNAL APPEARANCE EXAMINATION DEVICE, CONVERSION DATA GENERATION DEVICE, AND PROGRAM
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Nº de publicación: WO/2018/225745 Nº de la solicitud internacional: PCT/JP2018/021593
Fecha de publicación: 13.12.2018 Fecha de presentación de la solicitud internacional: 05.06.2018
CIP:
G01N 21/88 (2006.01) ,G06T 7/00 (2017.01)
G FISICA
01
METROLOGIA; ENSAYOS
N
INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS
21
Investigación o análisis de los materiales por la utilización de medios ópticos, es decir, utilizando rayos infrarrojos, visibles o ultravioletas
84
Sistemas especialmente adaptados a aplicaciones particulares
88
Investigación de la presencia de grietas, de defectos o de manchas
G FISICA
06
COMPUTO; CALCULO; CONTEO
T
TRATAMIENTO O GENERACION DE DATOS DE IMAGEN, EN GENERAL
7
Análisis de imagen, p. ej. desde un mapeado binario para obtener un mapeado no binario
Solicitantes:
株式会社デンソー DENSO CORPORATION [JP/JP]; 愛知県刈谷市昭和町1丁目1番地 1-1, Showa-cho, Kariya-shi, Aichi 4488661, JP
学校法人 名城大学 MEIJO UNIVERSITY [JP/JP]; 愛知県名古屋市天白区塩釜口一丁目501番地 1-501, Shiogamaguchi, Tempaku-ku, Nagoya-shi, Aichi 4688502, JP
Personas inventoras:
横山 良雄 YOKOYAMA, Yoshio; JP
坂本 佳隆 SAKAMOTO, Yoshitaka; JP
堀田 一弘 HOTTA, Kazuhiro; JP
村田 智和 MURATA, Tomokazu; JP
Mandataria/o:
名古屋国際特許業務法人 NAGOYA INTERNATIONAL PATENT FIRM; 愛知県名古屋市中区錦一丁目20番19号 名神ビル Meishin Bldg., 20-19, Nishiki 1-chome, Naka-ku, Nagoya-shi, Aichi 4600003, JP
Datos de prioridad:
2017-11157206.06.2017JP
Título (EN) EXTERNAL APPEARANCE EXAMINATION DEVICE, CONVERSION DATA GENERATION DEVICE, AND PROGRAM
(FR) DISPOSITIF D'EXAMEN D'APPARENCE EXTERNE, DISPOSITIF DE GÉNÉRATION DE DONNÉES DE CONVERSION ET PROGRAMME
(JA) 外観検査装置、変換データ生成装置、及びプログラム
Resumen:
(EN) An extraction unit (S150) extracts, from each of a plurality of quality images obtained by photographing the external appearance of an examination object determined to be of good quality, a quality vector that represents the features of the quality images. A generation unit (S160-S170) generates a conversion matrix using the plurality of quality vectors extracted by the extraction unit. The conversion matrix represents the connection between a first map in which a feature vector is mapped to a feature space, and a second map in which the result of the first map is mapped to an entire space to which the feature vector belongs. An adjustment unit (S180) uses the feature vector extracted from a pseudo-deficiency image as learning data, and adjusts the components of the conversion matrix generated by the generation unit.
(FR) L'invention concerne une unité d'extraction (S150) qui extrait, dans chaque image d'une pluralité d'images de qualité obtenues par photographie de l'apparence externe d'un objet d'examen déterminé comme étant de bonne qualité, un vecteur de qualité représentant les caractéristiques des images de qualité. Une unité de génération (S160-S170) génère une matrice de conversion à l'aide de la pluralité de vecteurs de qualité extraits par l'unité d'extraction. La matrice de conversion représente la connexion entre une première carte dans laquelle un vecteur de caractéristiques est mis en correspondance avec un espace de caractéristiques, et une seconde carte dans laquelle le résultat de la première carte est mis en correspondance avec un espace entier auquel appartient le vecteur de caractéristiques. Une unité de réglage (S180) utilise le vecteur de caractéristiques extrait d'une image de pseudo-déficience en tant que données d'apprentissage, et règle les composantes de la matrice de conversion générée par l'unité de génération.
(JA) 抽出部(S150)は、良品と判断される検査対象物の外観を写した複数の良品画像のそれぞれから該良品画像の特徴を表す良品ベクトルを抽出する。生成部(S160~S170)は、抽出部にて抽出された複数の良品ベクトルを用いて変換行列を生成する。変換行列は、特徴ベクトルを特徴空間へ写像する第1の写像、および第1の写像の結果を、特徴ベクトルが属する全体空間へ写像する第2の写像を連続して行うことを表現する行列である。調整部(S180)は、擬似欠陥画像から抽出された特徴ベクトルを学習データとして、生成部で生成された変換行列の各要素を調整する。
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Estados designados: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Oficina Eurasiática de Patentes (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Oficina Europea de Patentes (OEP) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organización Africana de la Propiedad Intelectual (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Idioma de publicación: Japonés (JA)
Idioma de la solicitud: Japonés (JA)