Colecciones nacionales e internacionales de patentes
Parte del contenido de esta aplicación no está disponible en este momento.
Si esta situación persiste, contáctenos aComentarios y contacto
1. (WO2018186052) DIAGNOSTIC IMAGING ASSISTANCE DEVICE, DIAGNOSTIC IMAGING ASSISTANCE SYSTEM, AND DIAGNOSTIC IMAGING ASSISTANCE METHOD
Datos bibliográficos más recientes de la Oficina InternacionalFormular observación

Nº de publicación: WO/2018/186052 Nº de la solicitud internacional: PCT/JP2018/007064
Fecha de publicación: 11.10.2018 Fecha de presentación de la solicitud internacional: 26.02.2018
Se presentó la solicitud en virtud del Capítulo II: 29.11.2018
CIP:
G06T 7/00 (2017.01) ,G01N 33/48 (2006.01) ,G06T 1/00 (2006.01)
G FISICA
06
COMPUTO; CALCULO; CONTEO
T
TRATAMIENTO O GENERACION DE DATOS DE IMAGEN, EN GENERAL
7
Análisis de imagen, p. ej. desde un mapeado binario para obtener un mapeado no binario
G FISICA
01
METROLOGIA; ENSAYOS
N
INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS
33
Investigación o análisis de materiales por métodos específicos no cubiertos por los grupos G01N1/-G01N31/198
48
Material biológico, p. ej. sangre, orina; Hemocitómetros
G FISICA
06
COMPUTO; CALCULO; CONTEO
T
TRATAMIENTO O GENERACION DE DATOS DE IMAGEN, EN GENERAL
1
Tratamiento de datos de imagen, de aplicación general
Solicitantes:
株式会社日立ハイテクノロジーズ HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION [JP/JP]; 東京都港区西新橋一丁目24番14号 24-14, Nishi-shimbashi 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1058717, JP
Personas inventoras:
服部 英春 HATTORI, Hideharu; JP
柿下 容弓 KAKISHITA, Yasuki; JP
内田 憲孝 UCHIDA, Kenko; JP
麻生 定光 ASO, Sadamitsu; JP
桜井 智也 SAKURAI, Toshinari; JP
Mandataria/o:
特許業務法人サンネクスト国際特許事務所 SUNNEXT INTERNATIONAL PATENT OFFICE; 東京都品川区東品川二丁目3番12号 シーフォ-トスクエア センタ-ビルディング16階 Seafort Square Center Building, 16F, 2-3-12, Higashishinagawa, Shinagawa-ku, Tokyo 1400002, JP
Datos de prioridad:
2017-07718007.04.2017JP
Título (EN) DIAGNOSTIC IMAGING ASSISTANCE DEVICE, DIAGNOSTIC IMAGING ASSISTANCE SYSTEM, AND DIAGNOSTIC IMAGING ASSISTANCE METHOD
(FR) DISPOSITIF, SYSTÈME ET PROCÉDÉ D'ASSISTANCE À L'IMAGERIE DE DIAGNOSTIC
(JA) 画像診断支援装置及び画像診断支援システム、並びに画像診断支援方法
Resumen:
(EN) A diagnostic imaging assistance device according to the present invention executes: a process for receiving an image of tissue or cells; a process for extracting a feature amount of the tissue or cells from an image to be processed; a process for extracting a feature amount of the tissue or cells from an image having components different from those of the image to be processed; and a process for using a plurality of feature amounts to determine the presence and probability of a lesion in each image to be processed.
(FR) La présente invention concerne un dispositif d'assistance à l'imagerie diagnostique qui exécute : un processus de réception d'une image de tissu ou de cellules ; un procédé d'extraction d'une quantité caractéristique du tissu ou des cellules à partir d'une image à traiter ; un processus d'extraction d'une quantité caractéristique du tissu ou des cellules à partir d'une image ayant des composantes différentes de celles de l'image à traiter ; et un processus d'utilisation d'une pluralité de quantités caractéristiques afin de déterminer la présence et la probabilité d'une lésion dans chaque image à traiter.
(JA) 本発明による画像診断支援装置は、組織や細胞の画像を入力する処理と、処理の対象画像から組織や細胞の特徴量を抽出する処理と、対象画像とは異なる成分を持つ画像から組織や細胞の特徴量を抽出する処理と、複数の特徴量を用いて、対象画像毎に病変の有無及び病変の確からしさを判定する処理と、を実行する。
front page image
Estados designados: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organización Regional Africana de la Propiedad Intelectual (ORAPI) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Organización Eurasiática de Patentes (OEAP) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Oficina Europea de Patentes (OEP) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organización Africana de la Propiedad Intelectual (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Idioma de publicación: Japonés (JA)
Idioma de la solicitud: Japonés (JA)