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1. (WO2018163850) EPITAXIAL WAFER REVERSE SURFACE INSPECTING METHOD, EPITAXIAL WAFER REVERSE SURFACE INSPECTING DEVICE, EPITAXIAL GROWTH DEVICE LIFT PIN MANAGEMENT METHOD, AND METHOD OF MANUFACTURING EPITAXIAL WAFER

Estado de la solicitud internacional
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27.06.2019Informe sobre la situación de la solicitud internacionalHTML, PDF, XMLPDF, XML


Solicitud internacional publicada
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13.09.2018Publicación inicial con IBI( (A1 37/2018))PDF (48p.)PDF (48p.), ZIP(XML + TIFFs), FullText


Documentos de búsqueda y de examen
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13.09.2018(ISA/210) Informe de búsqueda internacionalPDF (3p.)PDF (3p.), ZIP(XML + TIFFs)
13.09.2018(ISA/237) Opinión escrita de la Administración encargada de la búsqueda internacionalPDF (4p.)PDF (4p.), ZIP(XML + TIFFs)
13.09.2018Traducción del informe de búsqueda internacionalPDF (2p.)PDF (2p.), ZIP(XML + TIFFs)


Documentos relacionados presentados ante la Oficina Internacional
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02.10.2018(IB/308) Aviso al solicitante de que se ha comunicado la solicitud internacional a las Oficinas designadasPDF (1p.)PDF (1p.), ZIP(XML + TIFFs)
13.09.2018Documento de prioridadPDF (35p.)PDF (35p.), ZIP(XML + TIFFs)
13.09.2018(IB/301) Notificación de recepción del ejemplar originalPDF (1p.)PDF (1p.), ZIP(XML + TIFFs)
13.09.2018(RO/101) PetitorioPDF (5p.)
13.09.2018(IB/304) Notificación relativa al envío o transmisión del documento de prioridadPDF (1p.)PDF (1p.), ZIP(XML + TIFFs)
13.09.2018(IB/311) Notificación relativa a la publicación de la solicitud internacionalPDF (1p.)PDF (1p.), ZIP(XML + TIFFs)
13.09.2018Solicitud tal como se presentóPDF (43p.)PDF (43p.), ZIP(XML + TIFFs)
Solicitud internacional tal como se presentó