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1. (WO2018067687) PASSIVE DEVICE FOR VAPOR INTRUSION SAMPLING
Datos bibliográficos más recientes de la Oficina Internacional    Formular observación

Nº de publicación: WO/2018/067687 Nº de la solicitud internacional: PCT/US2017/055115
Fecha de publicación: 12.04.2018 Fecha de presentación de la solicitud internacional: 04.10.2017
CIP:
G01N 33/497 (2006.01) ,G01N 1/22 (2006.01) ,G01N 7/00 (2006.01) ,G01N 33/38 (2006.01)
G FISICA
01
METROLOGIA; ENSAYOS
N
INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS
33
Investigación o análisis de materiales por métodos específicos no cubiertos por los grupos G01N1/-G01N31/198
48
Material biológico, p. ej. sangre, orina; Hemocitómetros
483
Análisis físico de material biológico
497
de material biológico gaseoso, p. ej. del aliento
G FISICA
01
METROLOGIA; ENSAYOS
N
INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS
1
Muestreo; Preparación de muestras para la investigación
02
Dispositivos para tomar muestras
22
en estado gaseoso
G FISICA
01
METROLOGIA; ENSAYOS
N
INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS
7
Análisis de materiales midiendo la presión o el volumen de un gas o de un vapor
G FISICA
01
METROLOGIA; ENSAYOS
N
INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS
33
Investigación o análisis de materiales por métodos específicos no cubiertos por los grupos G01N1/-G01N31/198
38
cemento; cal; mortero; yeso; ladrillos; productos cerámicos; vidrio
Solicitantes:
CH2M HILL, INC. [US/US]; 9191 South Jamaica Street Englewood, Colorado 80112, US
Personas inventoras:
THOMPSON, Ben; US
NOVAK, Michael; US
NIEMET, Michael; US
Mandataria/o:
KANABER, Kerith; US
HATTENBCH, Brad J.; US
CORNELIO, Gina; US
CAPPS, R. Shane; US
IGNAT, Brian J.; US
MORRISON, Angela L.; US
HAEN, Shannon Lynch; US
RASMUSSEN, Michael; US
JONSEN, Matthew D.; US
GILLELAND, Justin; US
Datos de prioridad:
62/403,85704.10.2016US
Título (EN) PASSIVE DEVICE FOR VAPOR INTRUSION SAMPLING
(FR) DISPOSITIF PASSIF PERMETTANT UN ÉCHANTILLONNAGE D'INTRUSION DE VAPEUR
Resumen:
(EN) Disclosed herein is a passive vapor intrusion measurement device including a barrier layer having first and second major sides; an absorbent stack disposed on a first portion of the surface of the barrier layer first major side, the absorbent stack including a first absorbent layer, an optional second absorbent layer; and spacer layer(s) disposed between the first and second (if present) absorbent layer and the barrier layer; and an adhesive disposed on a second portion of the surface of the barrier layer first major side and transversely surrounding the absorbent stack. The device is applied to a substrate in need of vapor intrusion sampling. A method of vapor intrusion analysis includes individually collecting the first and second (if present) absorbent layers after a test period; analyzing the amount of an analyte the absorbent layer(s); and subtracting the amount of the analyte in the second absorbent layer (if present) from the amount of the analyte in the first absorbent layer.
(FR) La présente invention concerne un dispositif passif de mesure d'intrusion de vapeur comprenant une couche barrière ayant des premier et second côtés principaux ; un empilement absorbant disposé sur une première partie de la surface du premier côté principal de la couche barrière, l'empilement absorbant comprenant une première couche absorbante, une seconde couche absorbante facultative ; et une ou plusieurs couches d'espacement disposées entre les première et seconde couches absorbantes (si elles sont présentes) et la couche barrière ; et un adhésif disposé sur une seconde partie de la surface du premier côté principal de la couche barrière et entourant transversalement l'empilement absorbant. Le dispositif est appliqué à un substrat ayant besoin d'un échantillonnage d'intrusion de vapeur. Un procédé d'analyse d'intrusion de vapeur consiste à collecter individuellement les première et seconde couches absorbantes (si elles sont présentes) après une période de test ; à analyser la quantité d'un analyte dans la ou les couches absorbantes ; et à soustraire la quantité d'analyte dans la seconde couche absorbante (si elle est présente) de la quantité d'analyte dans la première couche absorbante.
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Estados designados: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Oficina Eurasiática de Patentes (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Oficina Europea de Patentes (OEP) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organización Africana de la Propiedad Intelectual (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Idioma de publicación: Inglés (EN)
Idioma de la solicitud: Inglés (EN)