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1. (WO2018038152) GAS MEASUREMENT SYSTEM AND GAS MEASUREMENT PROGRAM
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Nº de publicación: WO/2018/038152 Nº de la solicitud internacional: PCT/JP2017/030099
Fecha de publicación: 01.03.2018 Fecha de presentación de la solicitud internacional: 23.08.2017
CIP:
G01N 21/3504 (2014.01) ,G01N 21/27 (2006.01) ,G01N 21/39 (2006.01)
[IPC code unknown for G01N 21/3504]
G FISICA
01
METROLOGIA; ENSAYOS
N
INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS
21
Investigación o análisis de los materiales por la utilización de medios ópticos, es decir, utilizando rayos infrarrojos, visibles o ultravioletas
17
Sistemas en los que la luz incidente es modificada con arreglo a las propiedades del material examinado
25
Color; Propiedades espectrales, es decir, comparación del efecto del material sobre la luz para varias longitudes de ondas o varias bandas de longitudes de ondas diferentes
27
utilizando la detección fotoeléctrica
G FISICA
01
METROLOGIA; ENSAYOS
N
INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS
21
Investigación o análisis de los materiales por la utilización de medios ópticos, es decir, utilizando rayos infrarrojos, visibles o ultravioletas
17
Sistemas en los que la luz incidente es modificada con arreglo a las propiedades del material examinado
25
Color; Propiedades espectrales, es decir, comparación del efecto del material sobre la luz para varias longitudes de ondas o varias bandas de longitudes de ondas diferentes
31
investigando el efecto relativo del material para las longitudes de ondas características de elementos o de moléculas específicas, p. ej. espectrometría de absorción atómica
39
utilizando lasers con longitud de onda regulable
Solicitantes:
コニカミノルタ株式会社 KONICA MINOLTA, INC. [JP/JP]; 東京都千代田区丸の内二丁目7番2号 2-7-2, Marunouchi, Chiyoda-ku, Tokyo 1007015, JP
Personas inventoras:
井手 義憲 IDE, Yoshinori; JP
今出 久一郎 IMADE, Kyuichiro; JP
石川 亮太 ISHIKAWA, Ryouta; JP
Mandataria/o:
特許業務法人光陽国際特許事務所 KOYO INTERNATIONAL PATENT FIRM; 東京都千代田区有楽町一丁目1番3号 東京宝塚ビル17階 17F., Tokyo Takarazuka Bldg., 1-1-3, Yurakucho, Chiyoda-ku, Tokyo 1000006, JP
Datos de prioridad:
2016-16321124.08.2016JP
Título (EN) GAS MEASUREMENT SYSTEM AND GAS MEASUREMENT PROGRAM
(FR) SYSTÈME DE MESURE DE GAZ ET PROGRAMME DE MESURE DE GAZ
(JA) ガス計測システム及びガス計測プログラム
Resumen:
(EN) In order to automatically determine measurement conditions to achieve stability of measurement even when there is variation in the installation of a gas measurement device, and thereby to facilitate installation operations, this gas measurement system is provided with: a portable gas measurement device (10) which scans a laser to acquire two-dimensional gas distribution information; an imaging means (15, 40) which captures an image of a measurement candidate area around the position where the gas measurement device was installed; an image feature extraction means (20, 40) which extracts features from an image captured by the imaging means; and a measurement condition setting means (20, 40). On the basis of differences in features between a reference image captured of the measurement area and a captured image of the present measurement, the measurement condition setting means sets a measurement area and measurement sampling density for the present measurement so as to reduce the differences of the measurement area and the measurement sampling density between a previous reference measurement and the present measurement.
(FR) Afin de déterminer automatiquement des conditions de mesure pour obtenir une stabilité de mesure même lorsqu'il y a une variation dans l'installation d'un dispositif de mesure de gaz, et d'ainsi faciliter des opérations d'installation, l'invention concerne un système de mesure de gaz qui comprend : un dispositif de mesure de gaz portable (10) qui balaie un laser pour acquérir des informations de distribution de gaz bidimensionnelles; un moyen d'imagerie (15, 40) qui capture une image d'une zone candidate de mesure autour de la position où le dispositif de mesure de gaz a été installé; un moyen d'extraction d'éléments d'image (20, 40) qui extrait des caractéristiques d'une image capturée par le moyen d'imagerie; et un moyen de réglage de condition de mesure (20, 40). Sur la base de différences d'éléments entre une image de référence capturée de la zone de mesure et une image capturée de la présente mesure, le moyen de réglage de condition de mesure règle une zone de mesure et une densité d'échantillonnage de mesure pour la présente mesure de façon à réduire les différences de la zone de mesure et de la densité d'échantillonnage de mesure entre une mesure de référence précédente et la présente mesure.
(JA) ガス計測装置の設置にバラつきがあっても計測条件を自動的に決定し計測の安定化を図り、これをもって設置作業の容易化を図る。ガス計測システムは、レーザー光を走査して2次元的なガス分布情報を取得する可搬型のガス計測装置(10)と、ガス計測装置が設置された位置の周囲の計測候補エリアの画像を撮像する撮像手段(15,40)と、撮像手段により撮像した画像から特徴点を抽出する画像特徴点抽出手段(20,40)と、計測条件設定手段(20,40)とを備える。計測条件設定手段は、計測エリアを撮像した基準画像と今回計測時の撮像画像との特徴点の差異に基づき、過去の基準計測時と今回計測時とで計測エリアと計測サンプリング密度の差が縮小するように、今回計測時の計測エリアと計測サンプリング密度を設定する。
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Estados designados: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Oficina Eurasiática de Patentes (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Oficina Europea de Patentes (OEP) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organización Africana de la Propiedad Intelectual (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Idioma de publicación: Japonés (JA)
Idioma de la solicitud: Japonés (JA)