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1. (WO2018030438) CONDUCTION INSPECTION DEVICE MEMBER AND CONDUCTION INSPECTION DEVICE
Datos bibliográficos más recientes de la Oficina Internacional    Formular observación

Nº de publicación: WO/2018/030438 Nº de la solicitud internacional: PCT/JP2017/028842
Fecha de publicación: 15.02.2018 Fecha de presentación de la solicitud internacional: 08.08.2017
CIP:
G01R 1/06 (2006.01) ,G01R 1/073 (2006.01) ,G01R 31/02 (2006.01) ,G01R 31/26 (2014.01) ,G01R 31/28 (2006.01) ,H01L 21/66 (2006.01)
G FISICA
01
METROLOGIA; ENSAYOS
R
MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS
1
Detalles o disposiciones de aparatos de los tipos incluidos en los grupos G01R5/-G01R13/197
02
Elementos estructurales generales
06
Conductores de medida; Sondas de medida
G FISICA
01
METROLOGIA; ENSAYOS
R
MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS
1
Detalles o disposiciones de aparatos de los tipos incluidos en los grupos G01R5/-G01R13/197
02
Elementos estructurales generales
06
Conductores de medida; Sondas de medida
067
Sondas de medida
073
Sondas múltiples
G FISICA
01
METROLOGIA; ENSAYOS
R
MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS
31
Dispositivos para verificar propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizados por lo que es probado, no previstos en otro lugar
02
Ensayo de aparatos, de líneas, o de componentes eléctricos para detectar la presencia de cortocircuitos, discontinuidades, fugas o conexiones incorrectas de líneas
G FISICA
01
METROLOGIA; ENSAYOS
R
MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS
31
Dispositivos para verificar propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizados por lo que es probado, no previstos en otro lugar
26
Ensayo de dispositivos individuales de semiconductores
G FISICA
01
METROLOGIA; ENSAYOS
R
MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS
31
Dispositivos para verificar propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizados por lo que es probado, no previstos en otro lugar
28
Ensayo de circuitos electrónicos, p. ej. con la ayuda de un trazador de señales
H ELECTRICIDAD
01
ELEMENTOS ELECTRICOS BASICOS
L
DISPOSITIVOS SEMICONDUCTORES; DISPOSITIVOS ELECTRICOS DE ESTADO SOLIDO NO PREVISTOS EN OTRO LUGAR
21
Procedimientos o aparatos especialmente adaptados para la fabricación o el tratamiento de dispositivos semiconductores o de dispositivos de estado sólido, o bien de sus partes constitutivas
66
Ensayos o medidas durante la fabricación o tratamiento
Solicitantes:
積水化学工業株式会社 SEKISUI CHEMICAL CO., LTD. [JP/JP]; 大阪府大阪市北区西天満2丁目4番4号 4-4, Nishitemma 2-chome, Kita-ku, Osaka-shi, Osaka 5308565, JP
Personas inventoras:
笹平 昌男 SASADAIRA, Masao; JP
王 暁舸 WANG, Xiaoge; JP
Mandataria/o:
特許業務法人三枝国際特許事務所 SAEGUSA & PARTNERS; 大阪府大阪市中央区道修町1-7-1 北浜TNKビル Kitahama TNK Building, 1-7-1, Doshomachi, Chuo-ku, Osaka-shi, Osaka 5410045, JP
Datos de prioridad:
2016-15571808.08.2016JP
Título (EN) CONDUCTION INSPECTION DEVICE MEMBER AND CONDUCTION INSPECTION DEVICE
(FR) ÉLÉMENT POUR DISPOSITIF D'INSPECTION DE CONDUCTION ET DISPOSITIF D'INSPECTION DE CONDUCTION
(JA) 導通検査装置用部材及び導通検査装置
Resumen:
(EN) Provided is a conduction inspection device member: that has conductive parts that do not readily crack or develop voids; that does not readily experience impairment of conductive performance, even after repeated conduction inspections; and that is not readily left with contact marks at a portion thereof that contacts inspected members. Also provided is a conduction inspection device that comprises the conduction inspection device member. A conduction inspection device member that comprises a substrate 13, through holes 11, and conductive parts 12. The through holes 11 are arranged in the substrate 13, and the conductive parts 12 are housed inside the through holes 11. The conductive parts 12 include conductive particles 2. The conductive particles 2 comprise a substrate particle 21 and a conductive layer 22 that is arranged upon the surface of the substrate particle 21. The conductive layer 22 has protrusions 23 on the outer surface thereof.
(FR) L'invention porte sur un élément pour dispositif d'inspection de conduction : qui possède des parties conductrices qui ne se fissurent pas facilement ou ne développent pas facilement d'espaces vides ; qui ne subit pas facilement de dégradation des performances conductrices, même après des inspections de conduction répétées ; et qui ne garde pas facilement de marques de contact au niveau de sa partie entrant en contact avec les éléments inspectés. L'invention porte également sur un dispositif d'inspection de conduction qui comprend l'élément pour dispositif d'inspection de conduction. Un élément pour dispositif d'inspection de conduction comprend un substrat 13, des trous traversants 11 et des parties conductrices 12. Les trous traversants 11 sont disposés dans le substrat 13, et les parties conductrices 12 sont logées à l'intérieur des trous traversants 11. Les parties conductrices 12 comprennent des particules 2 conductrices. Les particules conductrices 2 comprennent une particule de substrat 21 et une couche conductrice 22 qui est disposée sur la surface de la particule de substrat 21. La couche conductrice 22 possède des saillies 23 sur sa surface extérieure.
(JA) 導電部のクラック及びボイドが発生しにくく、繰り返し導通検査を行っても導通性能が損なわれにくく、しかも、検査対象部材に接触した部分に対して接触痕を残しにくい導通検査装置用部材及びこの導通検査装置用部材を備えた導通検査装置を提供する。 導通検査装置用部材は、基体13、貫通孔11、及び導電部12を備え、貫通孔11は基体13に複数配置され、導電部12は貫通孔11内に収容されており、導電部12は導電性粒子2を含む。導電性粒子2は、基材粒子21及び基材粒子21の表面上に配置された導電層22を備える。導電層22は、外表面に複数の突起23を有する。
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Estados designados: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Oficina Eurasiática de Patentes (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Oficina Europea de Patentes (OEP) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organización Africana de la Propiedad Intelectual (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Idioma de publicación: Japonés (JA)
Idioma de la solicitud: Japonés (JA)