Parte del contenido de esta aplicación no está disponible en este momento.
Si esta situación persiste, contáctenos aComentarios y contacto
1. (WO2017041243) THE CALCULATION METHOD OF WAVE REFLECTIVE INDEX ON INTERFACE
Datos bibliográficos más recientes de la Oficina Internacional   

Nº de publicación: WO/2017/041243 Nº de la solicitud internacional: PCT/CN2015/089237
Fecha de publicación: 16.03.2017 Fecha de presentación de la solicitud internacional: 09.09.2015
CIP:
G01N 21/43 (2006.01)
G FISICA
01
METROLOGIA; ENSAYOS
N
INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS
21
Investigación o análisis de los materiales por la utilización de medios ópticos, es decir, utilizando rayos infrarrojos, visibles o ultravioletas
17
Sistemas en los que la luz incidente es modificada con arreglo a las propiedades del material examinado
41
Refracción; Propiedades ligadas a la fase, p. ej. longitud del recorrido óptico
43
midiendo el ángulo crítico
Solicitantes:
DALIAN TIANDAO MARINE TECHNOLOGY CO., LTD. [CN/CN]; Room 707, No.720 Huangpu Road, High-tech Zones Dalian, Liaoning 116018, CN
Personas inventoras:
ZHANG, Yonggang; CN
ZHANG, Jianxue; CN
JIAO, Lin; CN
Mandataria/o:
DALIAN TECHNICAL PATENT AGENCY CO., LTD; Room 1511,15F, 61 Renmin Road Zhongshan District Dalian, Liaoning 116001, CN
Datos de prioridad:
Título (EN) THE CALCULATION METHOD OF WAVE REFLECTIVE INDEX ON INTERFACE
(FR) PROCÉDÉ DE CALCUL DE L'INDICE DE RÉFLEXION D'ONDES SUR UNE INTERFACE
Resumen:
(EN) Calculation methods for wave reflectivity index (3) through normal on the interface and wave the absolutely reflective critical Angle (4), wave relatively reflective critical Angle (5), wave symmetrical refraction-reflection Angle (6). The wave reflectivity index (3) calculation method can be solved reflected wave energy calculation problem on interface. And absolutely reflective critical Angle (4) method to solve the interface of any kind of incident wave can all be reflected the critical Angle of computational problems for wave energy trapped, relative critical Angle (5) calculation method to solve the interface of any kind of incident wave began to resonance reflection the critical Angle of computational problems, symmetrical refraction-reflection Angle (6) calculation method can solve symmetry Angle calculation problem when the reflected wave energy equal to refracted wave energy. At the same time, and the methods are given for coefficient of the resonance wave and resonance wavelength with computational problems. The algorithms found that will be widely used in various fields such as light, electromagnetic waves, sound waves and waves etc.
(FR) L'invention concerne des procédés de calcul de l'indice de réflectivité (3) d'ondes par l'intermédiaire d'une perpendiculaire à l'interface et de l'angle critique (4) de réflexion absolue d'onde, de l'angle critique (5) de réflexion relative d'onde et de l'angle de réflexion (6) de réfraction symétrique. Le procédé de calcul de l'indice de réflectivité (3) d'ondes permet de résoudre le problème du calcul de l'énergie des ondes réfléchies sur l'interface. Le procédé utilisant l'angle critique (4) de réflexion absolue permet de résoudre les problèmes de calcul de l'angle critique de n'importe quel type d'onde incidente pouvant être réfléchie sur l'interface, liés à l'énergie des ondes piégées; le procédé de calcul de l'angle critique (5) relatif permet de résoudre les problèmes de calcul de de l'angle critique de n'importe quel type d'onde incidente sur l'interface à partir de la réflexion de résonance; le procédé de calcul de l'angle de réflexion (6) de réfraction symétrique permet de résoudre le problème de calcul de l'angle de symétrie lorsque l'énergie des ondes réfléchies est égale à l'énergie des ondes réfractées. Les procédés permettent également d'obtenir un coefficient de l'onde de résonance et la longueur d'onde de résonance à l'aide de problèmes de calcul. Les algorithmes découverts peuvent être largement utilisés dans divers domaines tels que les ondes lumineuses électromagnétiques, les ondes sonores, entre autres ondes.
front page image
Estados designados: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Oficina Eurasiática de Patentes (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Oficina Europea de Patentes (OEP) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organización Africana de la Propiedad Intelectual (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Idioma de publicación: Inglés (EN)
Idioma de la solicitud: Inglés (EN)