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1. (WO2015199539) PLASMA SOURCE AND SURFACE TREATMENT METHOD
Datos bibliográficos más recientes de la Oficina Internacional

Nº de publicación: WO/2015/199539 Nº de la solicitud internacional: PCT/NL2015/050463
Fecha de publicación: 30.12.2015 Fecha de presentación de la solicitud internacional: 25.06.2015
CIP:
C23C 16/455 (2006.01) ,C23C 16/513 (2006.01) ,H01J 37/32 (2006.01) ,H05H 1/24 (2006.01) ,H01L 21/314 (2006.01)
C QUIMICA; METALURGIA
23
REVESTIMIENTO DE MATERIALES METALICOS; REVESTIMIENTO DE MATERIALES CON MATERIALES METALICOS; TRATAMIENTO QUIMICO DE LA SUPERFICIE; TRATAMIENTO DE DIFUSION DE MATERIALES METALICOS; REVESTIMIENTO POR EVAPORACION EN VACIO, POR PULVERIZACION CATODICA, POR IMPLANTACION DE IONES O POR DEPOSICION QUIMICA EN FASE VAPOR, EN GENERAL; MEDIOS PARA IMPEDIR LA CORROSION DE MATERIALES METALICOS, LAS INCRUSTACIONES, EN GENERAL
C
REVESTIMIENTO DE MATERIALES METALICOS; REVESTIMIENTO DE MATERIALES CON MATERIALES METALICOS; TRATAMIENTO DE MATERIALES METALICOS POR DIFUSION EN LA SUPERFICIE, POR CONVERSION QUIMICA O SUSTITUCION; REVESTIMIENTO POR EVAPORACION EN VACIO, POR PULVERIZACION CATODICA, POR IMPLANTACION DE IONES O POR DEPOSICION QUIMICA EN FASE VAPOR, EN GENERAL
16
Revestimiento químico por descomposición de compuestos gaseosos, no quedando productos de reacción del material de la superficie en el revestimiento, es decir, procesos de deposición química en fase vapor
44
caracterizado por el proceso de revestimiento
455
caracterizado por el proceso utilizado para introducir gases en la cámara de reacción o para modificar las corrientes de gas en la cámara a reacción
C QUIMICA; METALURGIA
23
REVESTIMIENTO DE MATERIALES METALICOS; REVESTIMIENTO DE MATERIALES CON MATERIALES METALICOS; TRATAMIENTO QUIMICO DE LA SUPERFICIE; TRATAMIENTO DE DIFUSION DE MATERIALES METALICOS; REVESTIMIENTO POR EVAPORACION EN VACIO, POR PULVERIZACION CATODICA, POR IMPLANTACION DE IONES O POR DEPOSICION QUIMICA EN FASE VAPOR, EN GENERAL; MEDIOS PARA IMPEDIR LA CORROSION DE MATERIALES METALICOS, LAS INCRUSTACIONES, EN GENERAL
C
REVESTIMIENTO DE MATERIALES METALICOS; REVESTIMIENTO DE MATERIALES CON MATERIALES METALICOS; TRATAMIENTO DE MATERIALES METALICOS POR DIFUSION EN LA SUPERFICIE, POR CONVERSION QUIMICA O SUSTITUCION; REVESTIMIENTO POR EVAPORACION EN VACIO, POR PULVERIZACION CATODICA, POR IMPLANTACION DE IONES O POR DEPOSICION QUIMICA EN FASE VAPOR, EN GENERAL
16
Revestimiento químico por descomposición de compuestos gaseosos, no quedando productos de reacción del material de la superficie en el revestimiento, es decir, procesos de deposición química en fase vapor
44
caracterizado por el proceso de revestimiento
50
por medio de descargas eléctricas
513
utilizando chorros de plasma
H ELECTRICIDAD
01
ELEMENTOS ELECTRICOS BASICOS
J
TUBOS DE DESCARGA ELECTRICA O LAMPARAS DE DESCARGA ELECTRICA
37
Tubos de descarga provistos de medios o de un material para ser expuestos a la descarga, p. ej. con el propósito de sufrir un examen o tratamiento
32
Tubos de descarga en atmósfera gaseosa
H ELECTRICIDAD
05
TECNICAS ELECTRICAS NO PREVISTAS EN OTRO LUGAR
H
TECNICA DEL PLASMA; PRODUCCION DE PARTICULAS ACELERADAS ELECTRICAMENTE CARGADAS O DE NEUTRONES; PRODUCCION O ACELERACION DE HACES MOLECULARES O ATOMICOS NEUTROS
1
Producción del plasma; Manipulación del plasma
24
Producción del plasma
H ELECTRICIDAD
01
ELEMENTOS ELECTRICOS BASICOS
L
DISPOSITIVOS SEMICONDUCTORES; DISPOSITIVOS ELECTRICOS DE ESTADO SOLIDO NO PREVISTOS EN OTRO LUGAR
21
Procedimientos o aparatos especialmente adaptados para la fabricación o el tratamiento de dispositivos semiconductores o de dispositivos de estado sólido, o bien de sus partes constitutivas
02
Fabricación o tratamiento de dispositivos semiconductores o de sus partes constitutivas
04
los dispositivos presentan al menos una barrera de potencial o una barrera de superficie, p. ej. una unión PN, una región de empobrecimiento, o una región de concentración de portadores de cargas
18
los dispositivos tienen cuerpos semiconductores que incluyen elementos del cuarto grupo de la Tabla Periódica, o de compuestos AIIIBVcon o sin impurezas, p. ej. materiales de dopado
30
Tratamiento de cuerpos semiconductores utilizando procesos o aparatos no cubiertos por los gruposH01L21/20-H01L21/26204
31
para formar capas aislantes en superficie, p. ej. para enmascarar o utilizando técnicas fotolitográficas; Postratamiento de estas capas; Selección de materiales para estas capas
314
Capas inorgánicas
Solicitantes:
NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST-NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO [NL/NL]; Anna van Buerenplein 1 NL-2595 DA 's-Gravenhage, NL
Personas inventoras:
CREYGHTON, Yves Lodewijk Maria; NL
POODT, Paulus Willibrordus George; NL
SIMOR, Marcel; NL
ROOZEBOOM, Freddy; NL
Mandataria/o:
JANSEN, C.M.; NL
Datos de prioridad:
14173878.125.06.2014EP
Título (EN) PLASMA SOURCE AND SURFACE TREATMENT METHOD
(FR) SOURCE DE PLASMA ET PROCÉDÉ DE TRAITEMENT DE SURFACE
Resumen:
(EN) Plasma source and surface treatment method. A plasma source has an outer surface (12), interrupted by an aperture (14) for delivering an atmospheric plasma from the outer surface. A transport mechanism (11) transports a substrate (10) in parallel with the outer surface, closely to the outer surface, so that gas from the atmospheric plasma may form a gas bearing between the outer surface the and the substrate. A first electrode (16a,b) of the plasma source has a first and second surface extending from an edge of the first electrode that runs along the aperture. The first surface defines the outer surface on a first side of the aperture. The distance between the first and second surface increasing with distance from the edge. A second electrode (17) covered at least partly by a dielectric layer (18) is provided with the dielectric layer facing the second surface of the first electrode, substantially in parallel with the second surface of the first electrode, leaving a plasma initiation space on said first side of the aperture, between the surface of the dielectric layer and the second surface of the first electrode. A gas inlet (19a,b) feeds into the plasma initiation space to provide gas flow from the gas inlet to the aperture through the plasma initiation space. Atmospheric plasma initiated in the plasma initiation space flows to the aperture, from which it leaves to react with the surface of the substrate.
(FR) L'invention concerne une source de plasma et un procédé de traitement de surface. Une source de plasma présente une surface extérieure (12), interrompue par une ouverture (14) pour distribuer un plasma atmosphérique depuis la surface extérieure. Un mécanisme de transport (11) transporte un substrat (10) en parallèle avec la surface extérieure, à proximité de la surface extérieure, de sorte qu'un gaz provenant du plasma atmosphérique puisse former un palier à gaz entre la surface extérieure et le substrat. Une première électrode (16a,b) de la source de plasma comporte une première et une seconde surface s'étendant depuis un bord de la première électrode qui s'étend le long de l'ouverture. La première surface délimite la surface extérieure sur un premier côté de l'ouverture. La distance entre la première et la seconde surface augmente avec la distance à partir du bord. Une seconde électrode (17) recouverte au moins en partie par une couche diélectrique (18) est dotée de la couche diélectrique faisant face à la seconde surface de la première électrode, sensiblement en parallèle avec la seconde surface de la première électrode, en laissant un espace d'amorçage de plasma sur ledit premier côté de l'ouverture, entre la surface de la couche diélectrique et la seconde surface de la première électrode. Une entrée de gaz (19a,b) donne sur l'espace d'amorçage de plasma pour former un écoulement de gaz de l'entrée de gaz à l'ouverture, à travers l'espace d'amorçage de plasma. Le plasma atmosphérique amorcé dans l'espace d'amorçage de plasma s'écoule vers l'ouverture, qu'il quitte pour réagir avec la surface du substrat.
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Estados designados: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organización Regional Africana de la Propiedad Intelectual (ORAPI) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Organización Eurasiática de Patentes (OEAP) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Oficina Europea de Patentes (OEP) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organización Africana de la Propiedad Intelectual (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Idioma de publicación: Inglés (EN)
Idioma de la solicitud: Inglés (EN)
También publicado como:
US20170137939EP3161182
Se ruega indicar la disponibilidad para otorgar licencias La persona solicitante ha pedido a la Oficina Internacional que indique su disponibilidad para otorgar licencias respecto a la(s) invención(es) reivindicada(s) en esta solicitud internacional