WIPO logo
Móvil | Deutsch | English | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Colecciones nacionales e internacionales de patentes
World Intellectual Property Organization
Búsqueda
 
Navegar
 
Traducción
 
Opciones
 
Noticias
 
Conexión
 
Ayuda
 
Pretraducción automatizada
1. (WO2015093930) SISTEMA Y MÉTODO PARA CALIBRACIÓN Y CARACTERIZACIÓN DE INSTRUMENTOS DE MEDICIÓN DE TEMPERATURA POR TELEMETRÍA
Datos bibliográficos más recientes de la Oficina Internacional   

Nº de publicación: WO/2015/093930 Nº de la solicitud internacional: PCT/MX2014/000080
Fecha de publicación: 25.06.2015 Fecha de presentación de la solicitud internacional: 28.05.2014
CIP:
G01K 15/00 (2006.01)
Solicitantes: KAPLUN MUCHARRAFILLE, Margarita[MX/MX]; MX
Personas inventoras: KAPLUN MUCHARRAFILLE, Margarita; MX
MARTINEZ FUENTES, Victor; MX
Mandataria/o: DOMINGUEZ HUERTA, Carlos; Nelson 525-1 Colonia Terranova Guadalajara, Jalisco 44689, MX
Datos de prioridad:
MX/a/2013/01536719.12.2013MX
Título (EN) SYSTEM AND METHOD FOR CALIBRATING AND CHARACTERISING INSTRUMENTS FOR TEMPERATURE MEASUREMENT BY TELEMETRY
(FR) SYSTÈME ET PROCÉDÉ D'ÉTALONNAGE ET DE CARACTÉRISATION D'INSTRUMENTS DE MESURE DE LA TEMPÉRATURE PAR TÉLÉMÉTRIE
(ES) SISTEMA Y MÉTODO PARA CALIBRACIÓN Y CARACTERIZACIÓN DE INSTRUMENTOS DE MEDICIÓN DE TEMPERATURA POR TELEMETRÍA
Resumen: front page image
(EN) The invention relates to a system and method for calibrating instruments for measuring temperature by telemetry, which includes an electric furnace having digital ramp that has a cylindrical black-body recess with temperature sensors, mechanically connected to a disc shaped like a concentric heat-diffusing metal ring which generates a radial profile of staggered temperatures, a measurement subsystem arranged opposite said furnace which consists of a platform with a graded longitudinal scale as a distance indicator and which is suitable for mounting the template equipment and the equipment to be calibrated, and a PC with a specialised mathematical calculation program.
(FR) L'invention concerne un système et un procédé d'étalonnage d'instruments de mesure de la température par télémétrie qui implique un four électrique avec une rampe numérique qui a une cavité cylindrique de corps noir avec des capteurs thermiques, relié mécaniquement à un disque en forme d'anneau métallique diffuseur thermique concentrique qui génère un profil radial de températures étagées, un sous-système de mesure disposé devant ledit four qui comprend une plate-forme avec une échelle longitudinale graduée comme indicateur de distance et qui est adaptée pour monter les appareils étalons et les appareils à étalonner, et un PC doté d'un programme mathématique spécialisé de calcul.
(ES) Sistema y método de calibración de instrumentos de medición de temperatura por telemetría que involucra un horno eléctrico con rampa digital que tiene una cavidad cilíndrica de cuerpo negro con sensores de temperatura, ligado mecánicamente con un disco en forma de anillo metálico difusor térmico concéntrico que genera un perfil radial de temperaturas escalonadas, un subsistema de medición dispuesto frente a dicho horno que consta de una plataforma con escala longitudinal graduada como indicador de distancia y que está adaptada para montar los equipos patrón y los equipos a calibrar, y un PC con un programa matemático especializado de cálculo.
Estados designados: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Oficina Eurasiática de Patentes (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Oficina Europea de Patentes (OEP) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organización Africana de la Propiedad Intelectual (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Idioma de publicación: Español (ES)
Idioma de la solicitud: Español (ES)