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1. WO2014090938 - CONDUCTIVE ATOMIC FORCE MICROSCOPE TIPS COATED WITH GRAPHENE

N.º de publicación WO/2014/090938
Fecha de publicación 19.06.2014
Nº de la solicitud internacional PCT/EP2013/076362
Fecha de presentación internacional 12.12.2013
CIP
G01Q 60/40 2010.01
GFISICA
01METROLOGIA; ENSAYOS
QTECNICAS O APARATOS DE SONDA DE BARRIDO; APLICACIONES DE TECNICAS DE SONDA DE BARRIDO, p. ej. MICROSCOPIA POR SONDA DE BARRIDO
60Tipos particulares de microscopía por sonda de barrido o aparatos empleados; Componentes esenciales al efecto
24AFM o aparatos empleados, p. ej. sondas AFM
38Sondas, su fabricación o su instrumentación relacionada, p. ej. soportes
40Sondas conductoras
G01Q 70/14 2010.01
GFISICA
01METROLOGIA; ENSAYOS
QTECNICAS O APARATOS DE SONDA DE BARRIDO; APLICACIONES DE TECNICAS DE SONDA DE BARRIDO, p. ej. MICROSCOPIA POR SONDA DE BARRIDO
70Aspectos generales de las sondas SPM, de su fabricación o de su instrumentación relacionada, en tanto en cuanto no están adaptados a una única técnica SPM cubierta por el grupo G01Q60/205
08Características de las sondas
14Materiales particulares
CPC
G01Q 60/40
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
QSCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
60Particular types of SPM [Scanning Probe Microscopy] or microscopes; Essential components thereof
24AFM [Atomic Force Microscopy] or apparatus therefor, e.g. AFM probes
38Probes, their manufacture, or their related instrumentation, e.g. holders
40Conductive probes
G01Q 70/14
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
QSCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
70General aspects of SPM probes, their manufacture or their related instrumentation, insofar as they are not specially adapted to a single SPM technique covered by group G01Q60/00
08Probe characteristics
14Particular materials
Solicitantes
  • UNIVERSITAT AUTONOMA DE BARCELONA [ES]/[ES]
  • PEKING UNIVERSITY [CN]/[CN]
  • DUAN, Huiling [CN]/[CN] (US)
  • PORTI PUJAL, Marc [ES]/[ES] (US)
  • LANZA MARTINEZ, Mario [ES]/[CN] (US)
  • BAYERL, Albin [DE]/[ES] (US)
  • NAFRÍA MAQUEDA, Montserrat [ES]/[ES] (US)
Inventores
  • DUAN, Huiling
  • PORTI PUJAL, Marc
  • LANZA MARTINEZ, Mario
  • BAYERL, Albin
  • NAFRÍA MAQUEDA, Montserrat
Datos de prioridad
12382504.414.12.2012EP
Idioma de publicación Inglés (EN)
Idioma de solicitud Inglés (EN)
Estados designados
Título
(EN) CONDUCTIVE ATOMIC FORCE MICROSCOPE TIPS COATED WITH GRAPHENE
(FR) POINTES DE MICROSCOPE À FORCE ATOMIQUE CONDUCTEUR (CAFM) REVÊTUES DE GRAPHÈNE
Resumen
(EN)
The present invention relates to coating with a graphene single layer film the conductive surface of an atomic force microscope tip. The process of coating the conductive surface with graphene consists in three steps: first, immobilization of the tip on a Silicon block as a base using a thin film of Poly-methyl methacrylate (PMMA) in between. Then, the solid PMMA/AFM tip/PMMA/Silicon block was used as target substrate on which it is transferred the graphene sheet. Finally, it is removed the different PMMA layers using Acetone. Once PMMA is removed, the graphene is completely attached. The resulting tip is perfectly coated with graphene, and therefore much more resistant to both high currents and frictions than commercially available metal-varnished CAFM tips, and also to much larger lifetimes and more reliable imaging due to a lower tip-sample interaction.
(FR)
La présente invention concerne l'application en revêtement d'un film de monocouche de graphène à la surface conductrice d'une pointe de microscope à force atomique (AFM). Le processus de revêtement de la surface conductrice avec du graphène consiste en trois étapes : d'abord, immobilisation de la pointe sur un bloc de silicium en tant que base à l'aide d'un film mince de méthacrylate de polyméthyle (PMMA) entre ceux-ci. Ensuite, le PMMA/pointe AFM/PMMA/bloc de silicium a été utilisé en tant que substrat de cible sur lequel est transférée la feuille de graphène. Finalement, les différentes couches de PMMA sont retirées à l'aide d'acétone. Une fois que le PMMA est retiré, le graphène est complètement fixé. La pointe résultante est parfaitement revêtue de graphène et ainsi beaucoup plus résistante à la fois à des courants et des frottements élevés que des pointes AFM conducteur (CAFM) vernies de métal disponibles commercialement, et également des durées de vie beaucoup plus grandes et une imagerie plus fiable en raison d'une interaction pointe-échantillon plus faible.
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