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1. (WO2012175773) SISTEMA Y PROCEDIMIENTO DE MEDICION DEL ESPESOR DE FROTADORES DE PANTOGRAFO.
Datos bibliográficos más recientes de la Oficina Internacional   

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Nº de publicación:    WO/2012/175773    Nº de la solicitud internacional:    PCT/ES2012/070449
Fecha de publicación: 27.12.2012 Fecha de presentación de la solicitud internacional: 18.06.2012
Se presentó la solicitud en virtud del Capítulo II:    17.04.2013    
CIP:
G01B 11/02 (2006.01), G06T 7/00 (2006.01), G01B 11/16 (2006.01), B60L 3/12 (2006.01)
Solicitantes: UNIVERSIDAD DE VIGO [ES/ES]; Campus Universitario s/n E-36310 Vigo (pontevedra) (ES) (Todos excepto los EE.UU.).
VÁZQUEZ NUÑEZ, Fernando [ES/ES]; (ES) (Únicamente los EE.UU.).
SAMANIEGO LÓPEZ, Ricardo [ES/ES]; (ES) (Únicamente los EE.UU.).
ÁLVAREZ GIMÉNEZ, Ícaro [ES/ES]; (ES) (Únicamente los EE.UU.)
Personas inventoras: VÁZQUEZ NUÑEZ, Fernando; (ES).
SAMANIEGO LÓPEZ, Ricardo; (ES).
ÁLVAREZ GIMÉNEZ, Ícaro; (ES)
Mandataria/o: CARVAJAL Y URQUIJO, Isabel; c/c Clarke, Modet & Co. c/ Goya, 11 E-28001 Madrid (ES)
Datos de prioridad:
P201100703 20.06.2011 ES
Título (EN) SYSTEM AND METHOD FOR MEASURING THE THICKNESS OF COLLECTOR SHOES OF A PANTOGRAPH
(ES) SISTEMA Y PROCEDIMIENTO DE MEDICION DEL ESPESOR DE FROTADORES DE PANTOGRAFO.
(FR) SYSTÈME ET PROCÉDÉ DE MESURE DE L'ÉPAISSEUR DE FROTTEURS DE PANTOGRAPHE
Resumen: front page image
(EN)The invention relates to a system and method for measuring the thickness of collector shoes of a pantograph. The system includes: a main laser illumination means (17) that projects a horizontal laser line (25) onto the upper face of the collector shoe (8) along a plane (22) parallel to the collector shoe; auxiliary laser illumination means (18,18') that obliquely illuminate the collector shoe (8) along two planes (23,23') that are transverse thereto, and which project two auxiliary laser lines (26,26') onto the collector shoe (8); a means of capturing images (20) that captures images of the collector shoe (8), including the auxiliary laser lines (26,26') and the horizontal laser line (25); and a means of processing data (19) that analyzes the images in order to: detect the auxiliary laser lines (26,26'); detect the horizontal laser line (25); calculate a baseline (30') used as the origin for the thickness measurements; and arrive at the thickness of the collector shoe from the difference in vertical coordinates between the horizontal laser line (25) and the baseline (30').
(ES)Sistema y procedimiento de medición del espesor de frotadores de pantógrafo. El sistema comprende: medios de iluminación láser principal (17) que proyectan una línea láser horizontal (25) sobre la cara superior del frotador (8) según un plano (22) paralelo al frotador; medios de iluminación láser auxiliares (18,18') que iluminan oblicuamente al frotador (8) según dos planos transversales (23,23') al mismo, proyectando dos líneas láser auxiliares (26,26') sobre el frotador (8); medios de captación de imágenes (20) que capturan imágenes del frotador (8) incluyendo las líneas láser auxiliares (26,26') y la línea láser horizontal (25); medios de procesamiento de datos (19) que analizan las imágenes para: - detectar las líneas láser auxiliares (26,26'); - detectar la línea láser horizontal (25); - calcular una línea base (30') empleada como origen para las medidas del espesor; - obtener el espesor del frotador a partir de la diferencia en coordenadas verticales entre la línea láser horizontal (25) y la línea base (30').
(FR)L'invention concerne un système et un procédé de mesure de l'épaisseur de frotteurs de pantographe. Le système comprend un moyen d'éclairage laser principal (17) qui projettent une ligne laser horizontale (25) sur la face supérieure du frotteur (8) selon un plan (22) parallèle au frotteur; des moyens d'éclairage laser auxiliaires (18, 18') qui éclairent obliquement le frotteur (8) selon deux plans transversaux (23, 23') par rapport à celui-ci, projetant ainsi deux lignes laser auxiliaires (26, 26') sur le frotteur (8); des moyens de capture d'images (20) qui capturent des images du frotteur (8), y compris les lignes laser auxiliaires (26, 26') et la ligne laser horizontale (25); des moyens de traitement de données (19) qui analysent les images pour: - détecter les lignes laser auxiliaires (26, 26'); - détecter la ligne laser horizontale (25); - calculer une ligne de base (30') utilisée comme origine pour les mesures de l'épaisseur; - obtenir l'épaisseur du frotteur à partir de la différence en coordonnées verticales entre la ligne laser horizontale (25) et la ligne de base (30').
Estados designados: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organización Regional Africana de la Propiedad Intelectual (ORAPI) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Organización Eurasiática de Patentes (OEAP) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Oficina Europea de Patentes (OEP) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organización Africana de la Propiedad Intelectual (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Idioma de publicación: español (ES)
Idioma de la solicitud: español (ES)