Colecciones nacionales e internacionales de patentes
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1. (WO1997016922) IMAGING SYSTEM
Datos bibliográficos más recientes de la Oficina Internacional

Nº de publicación: WO/1997/016922 Nº de la solicitud internacional: PCT/US1996/017505
Fecha de publicación: 09.05.1997 Fecha de presentación de la solicitud internacional: 30.10.1996
Se presentó la solicitud en virtud del Capítulo II: 22.05.1997
CIP:
G02B 21/00 (2006.01)
G FISICA
02
OPTICA
B
ELEMENTOS, SISTEMAS O APARATOS OPTICOS
21
Microscopios
Solicitantes:
GRAVELY, Benjamin, T. [US/US]; US
Personas inventoras:
GRAVELY, Benjamin, T.; US
Mandataria/o:
ROSENTHAL, Robert, G.; Rosenthal & Putterman 5856 Faringdon Place Raleigh, NC 27609, US
Datos de prioridad:
60/007,08631.10.1995US
Título (EN) IMAGING SYSTEM
(FR) SYSTEME D'IMAGERIE
Resumen:
(EN) An imaging system operates at the diffraction limit of the optics to which it is connected and outputs a signal representative of a sample (S) lying in the sample plane (17). The system comprises a cathode ray tube (30), an optical lens system (10'), and a means for sensing (40). The cathode ray tube (30) comprises an electron gun (34) for generating an electron beam (35) in a raster pattern. The electron beam (35) is adapted to produce an illuminated spot (39a) that scans correspondingly in the raster pattern and wherein the spot (39a) is positioned in an object plane (26). The optical lens system (10') focuses in a diffraction limited manner, the object plane (26) on to the sample plane (17), such that the image of the spot (39b) is the smallest diffraction limited size as determined by the optical lens system (10').
(FR) Un système d'imagerie fonctionne à la limite de diffraction de l'optique sur laquelle il est connecté et produit un signal de sortie repésentant un échantillon (S) se trouvant dans le plan (17) de l'échantillon. Le système comprend un tube à rayon cathodique (30), un système à lentille optique (10') et un dispositif de détection (40). Le tube à rayon cathodique (30) comprend un canon à électrons (34) qui génère un faisceau d'électrons (35) suivant une configuration de trame. Le faisceau d'électrons (35) est adapté pour produire un point ou spot éclairé (39A) qui balaie de manière correspondante la configuration de trame, le spot (39a) étant positionné dans un plan d'objet (26). Le système à lentille optique (10') focalise de manière limitée en diffraction le plan d'objet (26) sur le plan d'échantillon (17), de sorte que l'image du spot (39b) ait la taille limitée en diffraction la plus petite, comme déterminée par le système à lentille optique (10').
Estados designados: AU, CA, JP
Oficina Europea de Patentes (OEP) (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE)
Idioma de publicación: Inglés (EN)
Idioma de la solicitud: Inglés (EN)
También publicado como:
EP0858708JP2000500881CA2234950AU1996075294