Colecciones nacionales e internacionales de patentes
Parte del contenido de esta aplicación no está disponible en este momento.
Si esta situación persiste, contáctenos aComentarios y contacto
1. (CN101262819) Direct measuring and correction of scatter for CT
Nota: Texto obtenido mediante procedimiento automático de reconocimiento óptico de caracteres.
Solo tiene valor jurídico la versión en formato PDF

权利要求书

1.一种用于检查感兴趣对象的检查装置,所述检查装置包括:
辐射源(104),适于向所述感兴趣对象(107)发射电磁辐射;
探测器单元(108),适于探测来自所述感兴趣对象(107)的图像数据和散射数据;
校正单元(118),适于基于所述散射数据校正所述图像数据;
其中,通过移动电磁辐射的焦点,在所述焦点相对所述探测器单元(108)的第一位置处探测所述图像数据,并且在所述焦点相对所述探测器单元(108)且不同于所述第一位置的第二位置处探测所述散射数据,从而交错地探测所述图像数据和所述散射数据。

2.如权利要求1所述的检查装置,还包括:
抗散射格栅,适于过滤所述电磁辐射。

3.如权利要求2所述的检查装置,
其中,所述抗散射格栅为一维抗散射格栅。

4.如权利要求2所述的检查装置,
其中,将所述抗散射格栅布置在所述感兴趣对象与所述探测器单元之间。

5.如权利要求1所述的检查装置,
其中,所述图像数据包括第一数量的直接辐射和第二数量的散射辐射;
其中,所述散射数据包括第三数量的直接辐射和第四数量的散射辐射;
其中,所述第一数量和所述第二数量之间的第一分数显著大于所述第三数量和所述第四数量之间的第二分数。

6.如权利要求1所述的检查装置,
其中,所述辐射源(104)适于电子地将所述焦点从所述第一位置移动到所述第二位置。

7.如权利要求1所述的检查装置,
其中,所述图像数据是在第一时间探测的;
其中,所述散射数据是在第二时间探测的;并且
其中,所述第一时间和所述第二时间与探测序列对应。

8.如权利要求1所述的检查装置,
其中,所述校正单元(118)还适于执行第一插补以替换损失的成像投影。

9.如权利要求1所述的检查装置,
其中,所述校正单元(118)还适于执行第二旋转插补,以产生对于每个投影角的散射估计。

10.如权利要求1所述的检查装置,
还适于执行对所述散射数据的低通滤波。

11.如权利要求1所述的检查装置,配置为由行李检验装置、医疗应用装置、材料测试装置及材料科学分析装置组成的组中的一个。

12.如权利要求1所述的检查装置,
还包括准直器(105),其布置在所述电磁辐射源(104)与所述探测器单元(108)之间;
其中,所述准直器(105)适于准直由所述电磁辐射源(104)发射的电磁辐射束,以形成锥束。

13.一种用于检查感兴趣对象的图像处理设备,所述图像处理设备包括:
存储器,用于存储所述感兴趣对象(107)的图像数据和散射数据;
校正单元(118),适于基于所述散射数据校正所述图像数据;
其中,通过移动电磁辐射的焦点,在所述焦点相对所述探测器单元(108)的第一位置处探测所述图像数据,并且在所述焦点相对所述探测器单元(108)且不同于所述第一位置的第二位置处探测所述散射数据,从而交错地探测所述图像数据和所述散射数据。

14.一种用于检查感兴趣对象的方法,所述方法包括如下步骤:
由辐射源(104)向所述感兴趣对象(107)发射电磁辐射;
由探测器单元(108)探测所述感兴趣对象(107)的图像数据和散射数据;
由校正单元(118)基于所述散射数据校正所述图像数据;
其中,通过移动电磁辐射的焦点,在所述焦点相对所述探测器单元(108)的第一位置处探测所述图像数据,并且在所述焦点相对所述探测器单元(108)且不同于所述第一位置的第二位置处探测所述散射数据,从而交错地探测所述图像数据和所述散射数据。