(EN) Described is a method for connectivity testing of integrated circuits. The method includes connecting an integrated circuit comprising an internal measurement component and a plurality of connection elements to an automated testing apparatus via a first common test channel connected to a first set of non-neighbouring connection elements of the plurality of connection elements and a second common test channel connected to a second set of non-neighbouring connection elements of the plurality of connection elements, different to the first set of non-neighbouring connection elements. The connection elements of the first set of non-neighbouring connection elements neighbour connection elements of the second set of non-neighbouring connection elements. The method further includes connecting a connection element of the plurality of connection elements to the internal measurement component, testing the connected connection element, and identifying a pass or fail for the connected connection element based on the testing. Also described is a system for connectivity testing of integrated circuits, and an adaptor for use with an system for connectivity testing of integrated circuits.
(FR) L'invention concerne un procédé de test de connectivité de circuits intégrés. Le procédé comprend la connexion d'un circuit intégré comprenant un composant de mesure interne et une pluralité d'éléments de connexion à un appareil de test automatisé par le biais d'un premier canal de test commun connecté à un premier ensemble d'éléments de connexion non adjacents de la pluralité d'éléments de connexion et d'un second canal de test commun connecté à un second ensemble d'éléments de connexion non adjacents de la pluralité d'éléments de connexion, différent du premier ensemble d'éléments de connexion non adjacents. Les éléments de connexion du premier ensemble d'éléments de connexion non adjacents jouxtent les éléments de connexion du second ensemble d'éléments de connexion non adjacents. Le procédé comprend en outre la connexion d'un élément de connexion de la pluralité d'éléments de connexion au composant de mesure interne, le test de l'élément de connexion connecté, et l'identification d'un succès ou d'un échec pour l'élément de connexion connecté sur la base du test. L'invention concerne également un système de test de connectivité de circuits intégrés, et un adaptateur à utiliser avec un système de test de connectivité de circuits intégrés.
