(EN) The invention describes an apparatus (100) for testing a component, wherein the apparatus (100) is configured to apply (101), for a set of B-field orientations, a magnetic B-field with a B-field orientation from the set of B-field orientations to the component; and wherein the apparatus (100) is configured to perform (102) a test of the component in the presence of the respective magnetic B-fields, to obtain an information characterizing an operation of the component; and wherein the apparatus (100) is configured to determine (103) a test result on the basis of the information characterizing the operation of the component associated with different magnetic B-fields. The invention also describes a method of testing and a computer program implementing the method. A test arrangement comprising the apparatus for testing is also described. This invention provides a testing concept, which is more efficient in view of the reliability and the costs.
(FR) L'invention concerne un appareil (100) pour tester un composant, l'appareil (100) étant conçu pour appliquer (101), pour un ensemble d'orientations de champ B, un champ B magnétique ayant une orientation de champ B à partir de l'ensemble d'orientations de champ B vers le composant ; et l'appareil (100) étant conçu pour effectuer (102) un test du composant en présence des champs B magnétiques respectifs, pour obtenir une information caractérisant une opération du composant ; et l'appareil (100) étant conçu pour déterminer (103) un résultat de test sur la base des informations caractérisant le fonctionnement du composant associé à différents champs B magnétiques. L'invention concerne également un procédé de test et un programme informatique mettant en œuvre le procédé. L'invention concerne aussi un agencement de test comprenant l'appareil de test. La présente invention concerne un concept de test, qui est plus efficace compte tenu de la fiabilité et des coûts.