(DE) Verfahren zur Kalibration einer Messeinrichtung für mehrere Produkte, das folgende Schritte aufweist: Messen einer Menge von Messwerten (Xp={xpij}) mit einer oder mehreren Messgrößen (j), für mehrere Produkte (p) und mit mehreren Messungen (i), Bereitstellen einer Menge von Referenzgrößen (Yp ={xpi i-te Referenzgröße } ) mit mindestens einer durch die Messgrößen (xpij) zu bestimmenden Referenzgröße (Y), wobei - Zusammenfassen der Messwerte (Xp) für alle Produkte zu einer erweiterten Matrix der Messwerte (X' ), - Bestimmen eines ersten Satzes von Kalibrierungsparametem (C'), der für ein oder mehrere Produkte (p) ein oder mehrere Gewichte (I) besitzt, wobei das eine oder die mehreren Produkte (p) innerhalb einer Produktfamilie zusammengefasst werden, die mindestens für ihre Produkte ein gleiches Gewicht (cj) aufweist, das vom Produkt unabhängig ist, - Bestimmen mindestens eines weiteren Satzes von Kalibrierungsparametern (C") für eine Teilmatrix der erweiterten Matrix der Messwerte (X') zur Kalibrierung der Messeinrichtung, wobei o innerhalb der ersten Produktfamilie ein oder mehrere Sätze mit weiteren Gewichten bestimmt und mehrere Produkte (p) mit gleichen Gewichten (I) zu einer weiteren Produktfamilie zusammengefasst werden und o außerhalb der ersten Produktfamilie weitere Sätze mit weiteren Gewichten bestimmt und mehrere Produkte (p') mit gleichen Gewichten (II) zu einer weiteren Produktfamilie zusammengefasst werden, o solange bis alle Gewichte für die Kalibrierung der Messeinrichtung bestimmt sind.
(EN) Method for calibrating a measuring device for a plurality of products, which method has the following steps of: measuring a set of measured values (Xp={xpij}) having one or more measurement variables (j) for a plurality of products (p) and having a plurality of measurements (i), providing a set of reference variables (Yp ={xpi i-th reference variable} ) having at least one reference variable (Y) to be determined by the measurement variables (xpij), with - combining the measured values (X
p
) for all products to form an expanded matrix of the measured values (X' ), - determining a first set of calibration parameters (C') having one or more weights (I) for one or more products (p), wherein the one or more products (p) are combined within a product family having a weight (cj) which is the same at least for the products of the product family and is independent of the product, - determining at least one further set of calibration parameters (C") for a submatrix of the expanded matrix of the measured values (X') for the purpose of calibrating the measuring device, wherein o one or more sets having further weights are determined within the first product family and a plurality of products (p) having the same weights (I) are combined to form a further product family, and o further sets having further weights are determined outside the first product family and a plurality of products (p') having the same weights (II) are combined to form a further product family o until all weights for calibrating the measuring device have been determined.
(FR) Procédé d'étalonnage d'un dispositif de mesure destiné à une pluralité de produits, ledit procédé consistant : à mesurer un ensemble de valeurs mesurées (Xp={xpij}) présentant une ou plusieurs variables de mesure (j) d'une pluralité de produits (p) et présentant une pluralité de mesures (i), à fournir un ensemble de variables de référence (Yp ={xpi i-ième variable de référence}) présentant au moins une variable de référence (Y) à déterminer par les variables de mesure (xpij), par - la combinaison des valeurs mesurées (X
p
) de tous les produits afin de former une matrice étendue des valeurs mesurées (X'), - la détermination d'un premier ensemble de paramètres d'étalonnage (C') présentant un ou plusieurs poids (I) pour un ou plusieurs produits (p), lesdits produits (p) étant combinés dans une famille de produits présentant un poids (cj) identique au moins pour les produits de la famille de produits et indépendant du produit, - la détermination d'au moins un autre ensemble de paramètres d'étalonnage (C") d'une sous-matrice de la matrice étendue des valeurs mesurées (X') dans le but d'étalonner le dispositif de mesure, un ou plusieurs ensembles présentant d'autres poids étant déterminés à l'intérieur de la première famille de produits et une pluralité de produits (p) présentant les mêmes poids (I) étant combinés afin de former une autre famille de produits, et un ou plusieurs ensembles présentant d'autres poids étant déterminés à l'extérieur de la première famille de produits et une pluralité de produits (p') présentant les mêmes poids (II) étant combinés afin de former une autre famille de produits jusqu'à ce que tous les poids permettant d'étalonner le dispositif de mesure aient été déterminés.
