(EN) A test circuit (10) and a test method. The test circuit (10) comprises: a first sampling module (100), configured to receive a pulse signal to be tested and generate a first sampling signal according to the pulse signal; and a second sampling module (200), configured to receive a pulse signal and generate a second sampling signal according to the pulse signal. The second sampling signal and the first sampling signal have a phase difference, and the phase difference is equal to a pulse width of the pulse signal.
(FR) L’invention concerne un circuit de test (10) et un procédé de test. Le circuit de test (10) comprend : un premier module d'échantillonnage (100), conçu pour recevoir un signal d'impulsion à tester et générer un premier signal d'échantillonnage en fonction du signal d'impulsion ; et un second module d'échantillonnage (200), conçu pour recevoir un signal d'impulsion et générer un second signal d'échantillonnage en fonction du signal d'impulsion. Le second signal d'échantillonnage et le premier signal d'échantillonnage ont une différence de phase, et la différence de phase est égale à une largeur d'impulsion du signal d'impulsion.
(ZH) 一种测试电路（10）和测试方法，测试电路（10）包括：第一采样模块（100），用于接收待测试的脉冲信号，并根据脉冲信号生成第一采样信号；以及第二采样模块（200），用于接收脉冲信号，并根据脉冲信号生成第二采样信号；其中，第二采样信号与第一采样信号具有一相位差，相位差等于脉冲信号的脉冲宽度。
