(EN) The embodiments of the present application discloses an avalanche photo diode (APD) performance test method and apparatus for an optical module, and an optical network and a medium. Said method is applicable to an optical network comprising an optical module and an optical network unit (ONU); said method comprises: selecting at least one optical network unit identifier (ONU ID) as a test ONU ID; allocating a bandwidth to the test ONU ID and enabling the bandwidth; acquiring received optical power of the optical module for the test ONU ID; and determining, on the basis of the received optical power, whether the performance of an APD in the optical module deteriorates.
(FR) Les modes de réalisation de la présente invention concernent un procédé et un appareil de test de performance de photodiode à avalanche (APD) pour un module optique, ainsi qu'un réseau et un support optique. Ledit procédé est applicable à un réseau optique comprenant un module optique et une unité de réseau optique (ONU), ledit procédé comprenant les étapes suivantes : sélection d'au moins un identificateur d'unité de réseau optique (ID d'ONU) en tant qu'ID d'ONU de test ; attribution d'une largeur de bande à l'ID d'ONU de test et activation de la largeur de bande ; acquisition d'une puissance optique reçue du module optique pour l'ID d'ONU de test ; et détermination, sur la base de la puissance optique reçue, si la performance d'une APD dans le module optique se dégrade.
(ZH) 本申请实施例公开了一种用于光模块的雪崩光电二极管APD性能检测方法、装置、光网络及介质。该方法适用于包括光模块和光网络单元ONU的光网络，方法包括：选取至少一个光网络单元标识ONU ID作为检测ONU ID；为检测ONU ID分配带宽并且带宽使能；获取光模块对于检测ONU ID的接收光功率；基于接收光功率判断光模块中APD的性能是否劣化。
