(EN) The present invention discloses a method and an analysis apparatus for determining an operational state of a contact device. The method comprising detecting a change in one of temperature and/or proximity data of a contact surface of the contact device with reference to a baseline value. Thereafter, the method comprising generating at least one of temperature profile and proximity profile from the detected change in the at least one of temperature and/or proximity data of the contact surface of the contact device and the baseline value. Lastly, the method comprising comparing the at least one of temperature profile and/or proximity profile with corresponding standard profiles stored in a memory of an analysis apparatus and determining the operational state of the contact device based on the comparison. The contact device may be one of a contact surface, a stethoscope, or a surface monitor.
(FR) La présente invention divulgue un procédé et un appareil d'analyse permettant de déterminer un état fonctionnel d'un dispositif de contact. Le procédé consiste à détecter un changement dans certaines données parmi des données de température et/ou de proximité d'une surface de contact du dispositif de contact par rapport à une valeur de ligne de base. Le procédé consiste ensuite à générer au moins un profil de température et/ou un profil de proximité à partir du changement détecté dans lesdites données de température et/ou de proximité de la surface de contact du dispositif de contact et de la valeur de ligne de base. Le procédé consiste enfin à comparer ledit profil de température et/ou ledit profil de proximité à des profils standards correspondants mémorisés dans une mémoire d'un appareil d'analyse et à déterminer l'état fonctionnel du dispositif de contact sur la base de la comparaison. Le dispositif de contact peut être l'un d'une surface de contact, d'un stéthoscope ou d'un dispositif de surveillance de surface.
