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1. WO2022000756 - METHOD FOR AUTOMATICALLY CALIBRATING SUPERCONDUCTING QUANTUM CHIP PARAMETERS AND RELATED COMPONENTS

Publication Number WO/2022/000756
Publication Date 06.01.2022
International Application No. PCT/CN2020/112501
International Filing Date 31.08.2020
IPC
G01R 31/28 2006.1
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
G01R 35/00 2006.1
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
35Testing or calibrating of apparatus covered by the other groups of this subclass
Applicants
  • 济南浪潮高新科技投资发展有限公司 JINAN INSPUR HIGH-TECH TECHNOLOGY DEVELOPMENT CO., LTD. [CN]/[CN]
Inventors
  • 刘强 LIU, Qiang
  • 金长新 JIN, Changxin
  • 刘幼航 LIU, Youhang
  • 李清石 LI, Qingshi
  • 李彦祯 LI, Yanzhen
Agents
  • 济南信达专利事务所有限公司 JINAN XINDA PATENT OFFICE CO., LTD.
Priority Data
202010605117.829.06.2020CN
Publication Language Chinese (zh)
Filing Language Chinese (ZH)
Designated States
Title
(EN) METHOD FOR AUTOMATICALLY CALIBRATING SUPERCONDUCTING QUANTUM CHIP PARAMETERS AND RELATED COMPONENTS
(FR) PROCÉDÉ D'ÉTALONNAGE AUTOMATIQUE DE PARAMÈTRES DE PUCE QUANTIQUE SUPRACONDUCTRICE ET COMPOSANTS ASSOCIÉS
(ZH) 一种超导量子芯片参数自动校准方法及相关组件
Abstract
(EN) A method for automatically calibrating superconducting quantum chip parameters. Said method comprises: after acquiring a first range of first calibration measurement signals of a parameter to be calibrated of a superconducting quantum chip, controlling a measurement device to send a plurality of first calibration measurement signals in the first range to the superconducting quantum chip, acquiring first response parameters of the superconducting quantum chip under the calibration measurement signals, and finally, using a first calibration measurement signal corresponding to an optimal first response parameter as a first actual calibration parameter of the parameter to be calibrated. The present invention effectively solves the problems of low calibration efficiency, etc. caused by manual calibration, achieves fully automatic calibration of parameters of a chip, and has the advantages of short calibration time, less repetitive work, low labor costs, and high calibration efficiency. A device and a system for automatically calibrating superconducting quantum chip parameters, and a readable storage medium, having the same beneficial effects as the method for automatically calibrating superconducting quantum chip parameters.
(FR) L'invention concerne un procédé d'étalonnage automatique de paramètres de puce quantique supraconductrice. Ledit procédé consiste à : après l'acquisition d'une première plage de premiers signaux de mesure d'étalonnage d'un paramètre à étalonner d'une puce quantique supraconductrice, commander un dispositif de mesure pour qu'il envoie une pluralité de premiers signaux de mesure d'étalonnage dans la première plage à la puce quantique supraconductrice, acquérir des premiers paramètres de réponse de la puce quantique supraconductrice sous les signaux de mesure d'étalonnage, et enfin, utiliser un premier signal de mesure d'étalonnage correspondant à un premier paramètre de réponse optimal en tant que premier paramètre d'étalonnage réel du paramètre à étalonner. La présente invention résout efficacement les problèmes de faible rendement d'étalonnage, etc., provoqués par un étalonnage manuel, permet d'obtenir un étalonnage entièrement automatique de paramètres d'une puce, et offre les avantages d'un temps d'étalonnage court, d'une tâche moins répétitive, de faibles coûts de main-d'œuvre et d'un haut rendement d'étalonnage. L'invention concerne également un dispositif et un système d'étalonnage automatique de paramètres de puce quantique supraconductrice, et un support d'informations lisible, ayant les mêmes effets bénéfiques que le procédé d'étalonnage automatique de paramètres de puce quantique supraconductrice.
(ZH) 一种超导量子芯片参数自动校准方法。在获取超导量子芯片的待校准参数的第一校准测量信号的第一范围后,控制测量装置在第一范围内向超导量子芯片发送多个第一校准测量信号,获取超导量子芯片在各个校准测量信号下的第一响应参数,最后,将最优的第一响应参数对应的第一校准测量信号作为待校准参数的第一实际校准参数。有效地解决了由于人工校准造成的校准效率低等问题,实现了对芯片的参数进行全自动校准,具有校准耗时短、重复性工作少、节约人力成本以及校准效率高的优点。一种超导量子芯片参数自动校准装置、系统及可读存储介质,具有与超导量子芯片参数自动校准方法相同的有益效果。
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