Processing

Please wait...

PATENTSCOPE will be unavailable a few hours for maintenance reason on Tuesday 25.01.2022 at 9:00 AM CET
Settings

Settings

Goto Application

1. WO2021240750 - EQUIPMENT STATE MONITORING DEVICE AND EQUIPMENT STATE MONITORING METHOD

Publication Number WO/2021/240750
Publication Date 02.12.2021
International Application No. PCT/JP2020/021206
International Filing Date 28.05.2020
IPC
G05B 23/02 2006.1
GPHYSICS
05CONTROLLING; REGULATING
BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
23Testing or monitoring of control systems or parts thereof
02Electric testing or monitoring
G05B 13/02 2006.1
GPHYSICS
05CONTROLLING; REGULATING
BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
13Adaptive control systems, i.e. systems automatically adjusting themselves to have a performance which is optimum according to some preassigned criterion
02electric
G06N 5/02 2006.1
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
NCOMPUTER SYSTEMS BASED ON SPECIFIC COMPUTATIONAL MODELS
5Computer systems using knowledge-based models
02Knowledge representation
CPC
G05B 13/02
GPHYSICS
05CONTROLLING; REGULATING
BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
13Adaptive control systems, i.e. systems automatically adjusting themselves to have a performance which is optimum according to some preassigned criterion
02electric
G05B 23/02
GPHYSICS
05CONTROLLING; REGULATING
BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
23Testing or monitoring of control systems or parts thereof
02Electric testing or monitoring
G06N 5/02
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
NCOMPUTER SYSTEMS BASED ON SPECIFIC COMPUTATIONAL MODELS
5Computer systems using knowledge-based models
02Knowledge representation
Applicants
  • 三菱電機株式会社 MITSUBISHI ELECTRIC CORPORATION [JP]/[JP]
Inventors
  • 栗山 俊通 KURIYAMA, Toshiyuki
Agents
  • 特許業務法人山王内外特許事務所 SANNO PATENT ATTORNEYS OFFICE
Priority Data
Publication Language Japanese (ja)
Filing Language Japanese (JA)
Designated States
Title
(EN) EQUIPMENT STATE MONITORING DEVICE AND EQUIPMENT STATE MONITORING METHOD
(FR) DISPOSITIF DE SURVEILLANCE D'ÉTAT D'ÉQUIPEMENT ET PROCÉDÉ DE SURVEILLANCE D'ÉTAT D'ÉQUIPEMENT
(JA) 機器状態監視装置および機器状態監視方法
Abstract
(EN) An equipment state monitoring device (1) is provided with: a feature quantity extraction unit (11) which extracts a feature quantity of operation data measured of the state of equipment; an operation pattern determination unit (12) which determines whether the operation pattern of the equipment when the operation data of the equipment was measured is a learned pattern for which the determination range of the state of the equipment has been learned or an unlearned pattern for which the determination range has not been learned; a feature quantity correction unit (13) which, on the basis of the relationship between operation patterns and operation data feature quantities of the equipment, corrects a feature quantity of operation data corresponding to an operation pattern determined to be an unlearned pattern so as to correspond to a learned pattern; and an equipment state determination unit (14) which determines the state of the equipment on the basis of the feature quantity of the operation data of the equipment and the determination range of the state of the equipment.
(FR) Dispositif de surveillance d'état d'équipement (1) comprenant : une unité d'extraction de quantité caractéristique (11) qui extrait une quantité caractéristique de données de fonctionnement mesurées de l'état de l'équipement ; une unité de détermination de comportement de fonctionnement (12) qui détermine si le comportement de fonctionnement de l'équipement lorsque les données de fonctionnement de l'équipement ont été mesurées est un comportement appris dont la plage de détermination de l'état de l'équipement a été apprise ou un comportement non appris dont la plage de détermination n'a pas été apprise ; une unité de correction de quantité caractéristique (13) qui corrige, sur la base de la relation entre des comportements de fonctionnement et des quantités caractéristiques de données de fonctionnement de l'équipement, une quantité caractéristique de données de fonctionnement correspondant à un comportement de fonctionnement déterminé comme étant un comportement non appris de façon à correspondre à un comportement appris ; et une unité de détermination d'état d'équipement (14) qui détermine l'état de l'équipement sur la base de la quantité caractéristique des données de fonctionnement de l'équipement et de la plage de détermination de l'état de l'équipement.
(JA) 機器状態監視装置(1)は、機器の状態が計測された運転データの特徴量を抽出する特徴量抽出部(11)と、機器の運転データが計測されたときの機器の運転パターンが、機器の状態の判定範囲が学習された学習済みパターンであるか、学習されていない未学習パターンであるかを判定する運転パターン判定部(12)と、機器の運転パターンと運転データの特徴量との関係に基づいて、未学習パターンと判定された運転パターンに対応する運転データの特徴量を、学習済みパターンに対応するように補正する特徴量補正部(13)と、機器の運転データの特徴量および機器の状態の判定範囲に基づいて、機器の状態を判定する機器状態判定部(14)を備える。
Latest bibliographic data on file with the International Bureau