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1. WO2021017325 - IGBT BONDING POINT PUSHING-FORCE TEST APPARATUS

Publication Number WO/2021/017325
Publication Date 04.02.2021
International Application No. PCT/CN2019/119750
International Filing Date 20.11.2019
IPC
G01R 31/26 2014.01
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
26Testing of individual semiconductor devices
G01N 19/04 2006.01
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
19Investigating materials by mechanical methods
04Measuring adhesive force between materials, e.g. of sealing tape, of coating
G01N 3/24 2006.01
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
3Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
24by applying steady shearing forces
Applicants
  • 烟台台芯电子科技有限公司 YANTAI TAIXIN ELECTRONIC TECHNOLOGY CO., LTD. [CN]/[CN]
Inventors
  • 张茹 ZHANG, Ru
  • 臧天程 ZANG, Tiancheng
  • 安勇 AN, Yong
  • 金浩 JIN, Hao
Agents
  • 北京中创博腾知识产权代理事务所(普通合伙) BEIJING ZHONGCHUANG BOTEN INTELLECTUAL PROPERTY AGENCY (GENERAL PARTNERSHIP)
Priority Data
201921220207.429.07.2019CN
Publication Language Chinese (ZH)
Filing Language Chinese (ZH)
Designated States
Title
(EN) IGBT BONDING POINT PUSHING-FORCE TEST APPARATUS
(FR) APPAREIL DE TEST DE FORCE DE POUSSÉE DE POINT DE LIAISON D'IGBT
(ZH) 一种IGBT键合点推力测试装置
Abstract
(EN)
Provided is an insulated-gate bipolar transistor (IGBT) bonding point pushing-force test apparatus; a vertical base (2) is connected to the upper end of a base (1); the upper end of the base (1) is provided with a first slide groove (3); the front side of the vertical base (2) is provided with a second slide groove (4); the upper end of the first slide groove (3) is connected to a positioning mechanism (5), and the second slide groove (4) is connected to a testing mechanism (6); the positioning mechanism (5) comprises a side wall (23), a slide rod (7), and a cradle (8); a placement groove (9) is formed in the middle of the side wall (23), the two sides of the side wall (23) are connected to a position-limiting block (10), and the front end of the position-limiting block (10) is connected to a position-limiting column (11); a hole (12) is formed at one end of the slide rod (7); the position-limiting column (11) is embedded in a strip hole (12) of the slide rod (7); a positioning hole (13) is formed on the other end of the slide rod (7), and the positioning hole (13) covers the outside of the placement groove (9); the base (8) is connected to the lower end of the side wall (23), a horizontal bar (14) is connected to the bottom of the base (8), and the horizontal bar (14) is embedded in the first slide groove (3); the rear side of a test sensor (15) is embedded and moves in a second slide groove (4), and the connecting rod (16) is connected between the test sensor (15) and a test cutter (17). The invention overcomes the problems of low manual test accuracy in current IGBT bonding point thrust testing and the high cost of automatic testing.
(FR)
L'invention concerne un appareil de test de force de poussée de point de liaison de transistor bipolaire à grille isolée (IGBT) ; une base verticale (2) est reliée à l'extrémité supérieure d'une base (1) ; l'extrémité supérieure de la base (1) est pourvue d'une première rainure de coulissement (3) ; le côté avant de la base verticale (2) est pourvu d'une seconde rainure de coulissement (4) ; l'extrémité supérieure de la première rainure de coulissement (3) est reliée à un mécanisme de positionnement (5) et la seconde rainure de coulissement (4) est reliée à un mécanisme de test (6) ; le mécanisme de positionnement (5) comprend une paroi latérale (23), une tige coulissante (7) et un berceau (8) ; une rainure de placement (9) est formée au milieu de la paroi latérale (23), les deux côtés de la paroi latérale (23) sont reliés à un bloc de limitation de position (10) et l'extrémité avant du bloc de limitation de position (10) est reliée à une colonne de limitation de position (11) ; un trou (12) est formé à une extrémité de la tige coulissante (7) ; la colonne de limitation de position (11) est intégrée dans un trou de bande (12) de la tige coulissante (7) ; un trou de positionnement (13) est formé sur l'autre extrémité de la tige coulissante (7) et le trou de positionnement (13) recouvre l'extérieur de la rainure de placement (9) ; la base (8) est reliée à l'extrémité inférieure de la paroi latérale (23), une barre horizontale (14) est reliée au fond de la base (8) et la barre horizontale (14) est intégrée dans la première rainure de coulissement (3) ; le côté arrière d'un capteur de test (15) est intégré et se déplace dans une seconde rainure de coulissement (4), et la tige de liaison (16) est connectée entre le capteur de test (15) et un dispositif de coupe de test (17). L'invention surmonte les problèmes de faible précision de test manuel dans l'actuel test de poussée de point de liaison d'IGBT et de coût élevé de test automatique.
(ZH)
一种IGBT键合点推力测试装置,立座(2)连接在底座(1)的上端,底座(1)上端设有第一滑动凹槽(3),立座(2)的前侧设有第二滑动凹槽(4),第一滑动凹槽(3)上端连接有定位机构(5),第二滑动凹槽(4)连接有测试机构(6);定位机构(5)包括侧壁(23)、滑杆(7)和基座(8),侧壁(23)中部形成有放置槽(9),侧壁(23)两侧连接有限位块(10),限位块(10)前端连接有限位柱(11);滑杆(7)一端形成有条孔(12),限位柱(11)嵌入滑杆(7)的条孔(12)中,滑杆(7)另外一端形成有定位孔(13),定位孔(13)覆盖于放置槽(9)的外侧;基座(8)连接在侧壁(23)的下端,基座(8)底部连接有横杆(14),横杆(14)嵌入第一滑动凹槽(3)内部;测试传感器(15)后侧嵌入并运动于第二滑动凹槽(4),连接杆(16)连接在测试传感器(15)和测试刀具(17)之间。克服目前IGBT键合点推力测试中手工测试精度低,自动测试成本高的问题。
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