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1. WO2020220408 - AMOLED PANEL CELL TEST CIRCUIT AND METHOD FOR REPAIRING DATA LINE

Publication Number WO/2020/220408
Publication Date 05.11.2020
International Application No. PCT/CN2019/087625
International Filing Date 20.05.2019
IPC
G09G 3/00 2006.01
GPHYSICS
09EDUCATING; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
3Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
G01R 31/00 2006.01
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
Applicants
  • 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 WUHAN CHINA STAR OPTOELECTRONICS SEMICONDUCTOR DISPLAY TECHNOLOGY CO., LTD. [CN]/[CN]
Inventors
  • 李超 LI, Chao
Agents
  • 深圳市德力知识产权代理事务所 COMIPS INTELLECTUAL PROPERTY OFFICE
Priority Data
201910357024.529.04.2019CN
Publication Language Chinese (ZH)
Filing Language Chinese (ZH)
Designated States
Title
(EN) AMOLED PANEL CELL TEST CIRCUIT AND METHOD FOR REPAIRING DATA LINE
(FR) CIRCUIT DE TEST DE CELLULE DE PANNEAU AMOLED ET PROCÉDÉ DE RÉPARATION DE LIGNE DE DONNÉES
(ZH) AMOLED 面板成盒检测电路及其修复数据线的方法
Abstract
(EN)
Disclosed are an AMOLED panel cell test circuit and a method for repairing a data line by the AMOLED panel cell test circuit. The AMOLED panel cell test circuit comprises: a first switch (SW1) of which the control end is connected with a test control signal (EN), the input end is input with a first data signal (Data R/B), and the output end is connected to a first test data signal line (CT R); a second switch (SW2) of which the control end is connected to a test control signal (EN), the input end is connected to a second data signal (Data B/R) and the output end is connected with a second test data signal line (CT B); and a third switch of which the control end is connected with the test control signal (EN), the input end is input with a third data signal (Data G), and the output end is connected with a third test data signal line (CT G). Various data lines are respectively connected to the first test data signal line (CT R), the second test data signal line (CT B) and the third test data signal line (CT G). The method can not only achieve screen test function of the cell test circuit, but also achieve circuit repair, thereby improving the yield rate.
(FR)
La présente invention concerne un circuit de test de cellule de panneau AMOLED et un procédé de réparation d'une ligne de données par le circuit de test de cellule de panneau AMOLED. Le circuit de test de cellule de panneau AMOLED comprend : un premier commutateur (SW1) dont l'extrémité de commande est connectée à un signal de commande de test (EN), l'extrémité d'entrée reçoit un premier signal de données (données R/B) et l'extrémité de sortie est connectée à une première ligne de signal de données de test (CT R); un deuxième commutateur (SW2) dont l'extrémité de commande est connectée à un signal de commande de test (EN), l'extrémité d'entrée est connectée à un deuxième signal de données (données B/R) et l'extrémité de sortie est connectée à une deuxième ligne de signal de données de test (CT B); et un troisième commutateur dont l'extrémité de commande est connectée au signal de commande de test (EN), l'extrémité d'entrée reçoit un troisième signal de données (données G) et l'extrémité de sortie est connectée à une troisième ligne de signal de données de test (CT G). Diverses lignes de données sont respectivement connectées à la première ligne de signal de données de test (CT R), à la deuxième ligne de signal de données de test (CT B) et à la troisième ligne de signal de données de test (CT G). Le procédé permet non seulement de mettre en œuvre une fonction de test d'écran du circuit de test de cellule, mais également de réaliser une réparation de circuit, ce qui permet d'améliorer le taux de rendement.
(ZH)
一种AMOLED面板成盒检测电路及其修复数据线的方法,包括:第一开关(SW1),其控制端连接检测控制信号(EN),输入端输入第一数据信号(Data R/B),输出端连接第一检测数据信号线(CT R);第二开关(SW2),其控制端连接检测控制信号(EN),输入端输入第二数据信号(Data B/R),输出端连接第二检测数据信号线(CT B);第三开关(SW3),其控制端连接检测控制信号(EN),输入端输入第三数据信号(Data G),输出端连接第三检测数据信号线(CT G);各类数据线分别连接第一检测数据信号线(CT R)、第二检测数据信号线(CT B)及第三检测数据信号线(CT G)。该方法不仅可以实现成盒检测电路的画面检测功能,且能实现电路修复,提升良率。
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