(EN) A thin film X-ray diffraction sample cell device (100) comprises a body (110) having a raised sample holder (210). The device (100) includes first and second probe tips (300, 310) located adjacent to the sample holder (210) and first and second translation stages (305, 315) each operable to move one of said first and second probe tips (300, 310) relative to three generally perpendicular axes. The first and second probe tips (300, 310) are provided to apply an electric field to a sample while x-ray diffraction is carried out on the sample.
(FR) L'invention concerne un dispositif de cellule d'échantillon à diffraction par rayons X sur couche mince (100) comprenant un corps (110) présentant un porte-échantillon surélevé (210). Le dispositif (100) comprend des première et seconde pointes de sonde (300, 310) adjacentes au porte-échantillon (210) et des premier et second étages de translation (305, 315) pouvant chacun fonctionner pour déplacer l'une desdites première et seconde pointes de sonde (300, 310) par rapport à trois axes généralement perpendiculaires. Les première et seconde pointes de sonde (300, 310) sont prévues pour appliquer un champ électrique à un échantillon tandis que la diffraction par rayons X est effectuée sur l'échantillon.