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1. WO2020199257 - SEALANT DETECTION APPARATUS AND SEALANT DETECTION METHOD

Publication Number WO/2020/199257
Publication Date 08.10.2020
International Application No. PCT/CN2019/083380
International Filing Date 19.04.2019
IPC
G01B 11/06 2006.01
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
11Measuring arrangements characterised by the use of optical means
02for measuring length, width, or thickness
06for measuring thickness
CPC
G01B 11/0625
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
11Measuring arrangements characterised by the use of optical means
02for measuring length, width or thickness
06for measuring thickness, e.g. of sheet material
0616of coating
0625with measurement of absorption or reflection
Applicants
  • 深圳市华星光电技术有限公司 SHENZHEN CHINA STAR OPTOELECTRONICS TECHNOLOGY CO., LTD. [CN]/[CN]
Inventors
  • 杜轩 DU, Xuan
Agents
  • 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) ESSEN PATENT&TRADEMARK AGENCY
Priority Data
201910270556.504.04.2019CN
Publication Language Chinese (ZH)
Filing Language Chinese (ZH)
Designated States
Title
(EN) SEALANT DETECTION APPARATUS AND SEALANT DETECTION METHOD
(FR) APPAREIL DE DÉTECTION DE PRODUIT D'ÉTANCHÉITÉ ET PROCÉDÉ DE DÉTECTION DE PRODUIT D'ÉTANCHÉITÉ
(ZH) 框胶检测装置和框胶检测方法
Abstract
(EN)
A sealant detection apparatus (1), used for detecting the thickness (D) of a sealant (3) coated on a substrate (2). The sealant detection apparatus (1) comprises: a bearing platform (10), an optical sampling unit (11), a moving unit (12), and a processing unit (13). The bearing platform (10) is used for bearing the substrate (2). The optical sampling unit (11) is used for emitting light rays (L1) to a plurality of detection points (30) on the surface of the sealant (3) and receiving the amount of reflected light (L2) from each detection point (30). The moving unit (12) is used for moving the optical sampling unit (11) on a plurality of detection planes (P) having different detection heights (H). The processing unit (13) is configured to: for the same detection point (30), compare the amount of reflected light (L2) corresponding to the plurality of detection heights (H) in order to determine the greatest amount of reflected light; and, on the basis of the detection height (H) corresponding to the greatest amount of reflected light of each detection point (30), determine whether the thickness (D) of the sealant corresponding to each detection point (30) is equal.
(FR)
L'invention concerne un appareil de détection de produit d'étanchéité (1), utilisé pour détecter l'épaisseur (D) d'un matériau d'étanchéité (3) revêtu sur un substrat (2). L'appareil de détection de produit d'étanchéité (1) comprend : une plateforme de support (10), une unité d'échantillonnage optique (11), une unité de déplacement (12) et une unité de traitement (13). La plateforme de support (10) est utilisée pour supporter le substrat (2). L'unité d'échantillonnage optique (11) est utilisée pour émettre des rayons lumineux (L1) vers une pluralité de points de détection (30) sur la surface du matériau d'étanchéité (3) et recevoir la quantité de lumière réfléchie (L2) par chaque point de détection (30). L'unité de déplacement (12) est utilisée pour déplacer l'unité d'échantillonnage optique (11) sur une pluralité de plans de détection (P) présentant différentes hauteurs de détection (H). L'unité de traitement (13) est conçue pour : pour le même point de détection (30), comparer la quantité de lumière réfléchie (L2) correspondant à la pluralité de hauteurs de détection (H) afin de déterminer la plus grande quantité de lumière réfléchie ; et en fonction de la hauteur de détection (H) correspondant à la plus grande quantité de lumière réfléchie de chaque point de détection (30), déterminer si l'épaisseur (D) de l'agent d'étanchéité correspondant à chaque point de détection (30) est égale.
(ZH)
一种框胶检测装置(1),用于检测涂布于基板(2)上的框胶(3)厚度(D)。框胶检测装置(1)包括:承载台(10)、光学取样单元(11)、移动单元(12)和处理单元(13)。承载台(10)用于承载基板(2)。光学取样单元(11)用于向框胶(3)表面的多个检测点(30)发射光线(L1),且接收来自各检测点(30)的反射光量(L2)。移动单元(12)用于在多个具有不同检测高度(H)的检测平面(P)上移动光学取样单元(11)。处理单元(13)被配置为:对于同一个检测点(30),比较对应于多个检测高度(H)的反射光量(L2)以决定最高反射光量;以及根据各检测点(30)的最高反射光量所对应的检测高度(H),判断对应于各检测点(30)的框胶厚度(D)是否相等。
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