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1. WO2020195955 - ANALOG-TO-DIGITAL CONVERTER, SENSOR SYSTEM, AND TEST SYSTEM

Publication Number WO/2020/195955
Publication Date 01.10.2020
International Application No. PCT/JP2020/011111
International Filing Date 13.03.2020
IPC
H03M 1/10 2006.01
HELECTRICITY
03BASIC ELECTRONIC CIRCUITRY
MCODING, DECODING OR CODE CONVERSION, IN GENERAL
1Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
10Calibration or testing
H03M 1/12 2006.01
HELECTRICITY
03BASIC ELECTRONIC CIRCUITRY
MCODING, DECODING OR CODE CONVERSION, IN GENERAL
1Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
12Analogue/digital converters
H03M 1/20 2006.01
HELECTRICITY
03BASIC ELECTRONIC CIRCUITRY
MCODING, DECODING OR CODE CONVERSION, IN GENERAL
1Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
12Analogue/digital converters
20Increasing resolution using an n bit system to obtain n + m bits, e.g. by dithering
CPC
H03M 1/10
HELECTRICITY
03BASIC ELECTRONIC CIRCUITRY
MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
1Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
10Calibration or testing
H03M 1/12
HELECTRICITY
03BASIC ELECTRONIC CIRCUITRY
MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
1Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
12Analogue/digital converters
H03M 1/20
HELECTRICITY
03BASIC ELECTRONIC CIRCUITRY
MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
1Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
12Analogue/digital converters
20Increasing resolution using an n bit system to obtain n + m bits
Applicants
  • パナソニックIPマネジメント株式会社 PANASONIC INTELLECTUAL PROPERTY MANAGEMENT CO., LTD. [JP]/[JP]
Inventors
  • 小畑 幸嗣 OBATA Koji
  • 中 順一 NAKA Jun'ichi
  • 中塚 淳二 NAKATSUKA Junji
  • 芳野 大樹 YOSHINO Hiroki
  • 永井 正昭 NAGAI Masaaki
Agents
  • 鎌田 健司 KAMATA Kenji
  • 野村 幸一 NOMURA Koichi
Priority Data
2019-06509628.03.2019JP
Publication Language Japanese (JA)
Filing Language Japanese (JA)
Designated States
Title
(EN) ANALOG-TO-DIGITAL CONVERTER, SENSOR SYSTEM, AND TEST SYSTEM
(FR) CONVERTISSEUR ANALOGIQUE-NUMÉRIQUE, SYSTÈME DE CAPTEUR ET SYSTÈME DE TEST
(JA) アナログデジタルコンバータ、センサシステム、及びテストシステム
Abstract
(EN)
Provided are an analog-to-digital (AD) converter, a sensor system, and a test system with which it is possible to reduce the time for test processing. The AD converter (1) is provided with: an input unit (3); an AD conversion unit (2); a first output unit (41); and a second output unit (42). The input unit (3) takes as an input an analog signal output from a sensor (101). The AD conversion unit (2) subjects the analog signal to digital conversion and generates first digital data and second digital data. The first output unit (41) outputs the first digital data to a control circuit (200). The second output unit (42), before the first output unit (41) outputs the first digital data, outputs the second digital data to a test control unit (301). The test control unit (301), in a test mode, determines whether a sensor system (100) including the sensor (101) is in an abnormal state on the basis of the second digital data.
(FR)
L'invention concerne un convertisseur analogique-numérique (AN), un système de capteur et un système de test avec lesquels il est possible de réduire le temps de traitement de test. Le convertisseur AN (1) est pourvu d'une unité d'entrée (3), d'une unité de conversion AN (2), d'une première unité de sortie (41) et d'une seconde unité de sortie (42). L'unité d'entrée (3) prend comme entrée un signal analogique délivré par un capteur (101). L'unité de conversion AN (2) soumet le signal analogique à une conversion numérique et génère des premières données numériques et des secondes données numériques. La première unité de sortie (41) délivre les premières données numériques à un circuit de commande (200). La seconde unité de sortie (42), avant que la première unité de sortie (41) délivre les premières données numériques, délivre les secondes données numériques à une unité de commande de test (301). L'unité de commande de test (301), dans un mode de test, détermine si un système de capteur (100) comprenant le capteur (101) est dans un état anormal sur la base des secondes données numériques.
(JA)
テスト処理の時間の短縮を図ることができるアナログデジタル(AD)コンバータ、センサシステム、及びテストシステムを提供する。ADコンバータ(1)は、入力部(3)と、AD変換部(2)と、第1出力部(41)と、第2出力部(42)と、を備える。入力部(3)は、センサ(101)から出力されたアナログ信号が入力される。AD変換部(2)は、アナログ信号をデジタル変換して第1デジタルデータ及び第2デジタルデータを生成する。第1出力部(41)は、第1デジタルデータを制御回路(200)に出力する。第2出力部(42)は、第1出力部(41)が第1デジタルデータを出力する前に、第2デジタルデータをテスト制御部(301)に出力する。テスト制御部(301)は、テストモードにおいて、第2デジタルデータに基づいて、センサ(101)を含むセンサシステム(100)が異常状態であるか否かを判定する。
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