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1. WO2020194734 - RESONANCE SHEAR MEASUREMENT DEVICE

Publication Number WO/2020/194734
Publication Date 01.10.2020
International Application No. PCT/JP2019/013845
International Filing Date 28.03.2019
IPC
G01N 11/00 2006.01
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
11Investigating flow properties of materials, e.g. viscosity or plasticity; Analysing materials by determining flow properties
Applicants
  • 国立大学法人東北大学 TOHOKU UNIVERSITY [JP]/[JP]
Inventors
  • 栗原 和枝 KURIHARA Kazue
  • 水上 雅史 MIZUKAMI Masashi
  • 粕谷 素洋 KASUYA Motohiro
Agents
  • 棚井 澄雄 TANAI Sumio
  • 飯田 雅人 IIDA Masato
  • 及川 周 OIKAWA Shu
Priority Data
Publication Language Japanese (JA)
Filing Language Japanese (JA)
Designated States
Title
(EN) RESONANCE SHEAR MEASUREMENT DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE MESURE DE CISAILLEMENT PAR RÉSONANCE
(JA) 共振ずり測定装置
Abstract
(EN)
This resonance shear measurement device (1) comprises: an upper unit (10) having a piezoelectric element (15), an upper disk substrate (16), and a spring (17); and a lower unit (11) having a lower disk substrate (14), wherein a sample insertion part (21) is formed between the lower surface of the upper disk substrate (16) and the upper surface of the lower disk substrate (14), the piezoelectric element (15) and the upper disk substrate (16) are vibratably connected to a fixed apparatus (30) via the spring (17), a strain gauge (19) is attached to the spring (17), and by applying an AC voltage to the piezoelectric element (15) while changing a frequency thereof, a response voltage at a time of resonance from the strain gauge (19) according to the vibration of the upper unit (10) is measured.
(FR)
L'invention concerne un dispositif de mesure de cisaillement par résonance (1) comprenant : une unité supérieure (10) comportant un élément piézoélectrique (15), un substrat de disque supérieur (16) et un ressort (17); et une unité inférieure (11) comportant un substrat de disque inférieur (14), une partie d'insertion d'échantillon (21) étant formée entre la surface inférieure du substrat de disque supérieur (16) et la surface supérieure du substrat de disque inférieur (14), l'élément piézoélectrique (15) et le substrat de disque supérieur (16) étant reliés par vibration à un appareil fixe (30) par l'intermédiaire du ressort (17), une jauge de contrainte (19) est fixée au ressort (17), et en appliquant une tension alternative à l'élément piézoélectrique (15) tout en changeant sa fréquence, une tension de réponse à un temps de résonance de la jauge de contrainte (19) en fonction de la vibration de l'unité supérieure (10) est mesurée.
(JA)
この発明の共振ずり測定装置(1)は、圧電素子(15)、上部ディスク基板(16)及びバネ(17)を有する上部ユニット(10)と、下部ディスク基板(14)を有する下部ユニット(11)と、を備え、上部ディスク基板(16)の下面と下部ディスク基板(14)の上面との間が試料挿入部(21)を形成し、圧電素子(15)及び上部ディスク基板(16)は、バネ(17)を介して固定機材(30)に振動可能に接続され、ひずみゲージ(19)がバネ(17)に貼着され、圧電素子(15)に周波数を変化させながら交流電圧を印加することにより、上部ユニット(10)の振動に伴うひずみゲージ(19)からの共振時の応答電圧を測定する。
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