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1. WO2020194534 - ABNORMALITY DETERMINATION ASSISTANCE DEVICE

Publication Number WO/2020/194534
Publication Date 01.10.2020
International Application No. PCT/JP2019/012973
International Filing Date 26.03.2019
IPC
G05B 23/02 2006.01
GPHYSICS
05CONTROLLING; REGULATING
BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
23Testing or monitoring of control systems or parts thereof
02Electric testing or monitoring
Applicants
  • 東芝三菱電機産業システム株式会社 TOSHIBA MITSUBISHI-ELECTRIC INDUSTRIAL SYSTEMS CORPORATION [JP]/[JP]
Inventors
  • 今成 宏幸 IMANARI, Hiroyuki
  • 下田 直樹 SHIMODA, Naoki
Agents
  • 高田 守 TAKADA, Mamoru
  • 高橋 英樹 TAKAHASHI, Hideki
Priority Data
Publication Language Japanese (JA)
Filing Language Japanese (JA)
Designated States
Title
(EN) ABNORMALITY DETERMINATION ASSISTANCE DEVICE
(FR) DISPOSITIF D'AIDE À LA DÉTERMINATION D'ANOMALIES
(JA) 異常判定支援装置
Abstract
(EN)
This abnormality determination assistance device is provided with a to-be-analyzed data creation unit, a primary determination unit, and a secondary determination unit. The to-be-analyzed data creation unit acquires, from a data extraction device of a production facility, a time-series signal representing at least one of the status of the production facility and a product quality, and extracts to-be-analyzed data from the time-series signal. The primary determination unit applies a plurality of different types of analysis methods to the extracted to-be-analyzed data and thereby derives a plurality of primary determination results from the common to-be-analyzed data. The secondary determination unit has a machine learning device that has been trained using, as training signals, pairs each consisting of a primary determination result obtained by the primary determination unit and a combination of an abnormality determination result and an abnormality case, which serves as an answer corresponding to the primary determination result, wherein the secondary determination unit inputs, to the machine learning device, the plurality of primary determination results obtained by the primary determination unit from the common to-be-analyzed data, and outputs, as information for determination, an estimated abnormality cause and a secondary determination result output from the machine learning device.
(FR)
L'invention concerne un dispositif d'aide à la détermination d'anomalies pourvu d'une unité de création de données à analyser, d'une unité de détermination primaire et d'une unité de détermination secondaire. L'unité de création de données à analyser acquiert, à partir d'un dispositif d'extraction de données d'une installation de production, un signal de série chronologique représentant l'état de l'installation de production et/ou une qualité de produit, et extrait des données à analyser à partir du signal de série chronologique. L'unité de détermination primaire applique de multiples types différents de procédés d'analyse aux données à analyser extraites et déduit ainsi plusieurs résultats de détermination primaires à partir des données à analyser communes. L'unité de détermination secondaire comprend un dispositif d'apprentissage automatique qui a été entraîné à l'aide, en tant que signaux d'apprentissage, de paires, chacune étant constituée d'un résultat de détermination primaire obtenu par l'unité de détermination primaire et d'une combinaison d'un résultat de détermination d'anomalie et d'un cas d'anomalie, ce qui sert de réponse correspondant au résultat de détermination primaire. L'unité de détermination secondaire entre, dans le dispositif d'apprentissage automatique, les multiples résultats de détermination primaires obtenus par l'unité de détermination primaire à partir des données à analyser communes et sort, en tant qu'informations en vue de la détermination, une cause d'anomalie estimée et une sortie de résultat de détermination secondaire provenant du dispositif d'apprentissage automatique.
(JA)
異常判定支援装置は、解析対象データ作成部、一次判定部、及び二次判定部を備える。解析対象データ作成部は、製造設備のデータ採取装置から製造設備の状態又は製品品質の少なくとも一方を表す時系列信号を取得し、時系列信号から解析対象データを抽出する。一次判定部は、抽出された解析対象データに複数種類の異なる解析方法を適用することによって、共通の解析対象データから複数の一次判定結果を導出する。二次判定部は、一次判定部で得られた一次判定結果とそれに対応する正解としての異常判定結果及び異常原因との対を教師信号として学習された機械学習装置を有し、一次判定部において共通の解析対象データから得られた複数の一次判定結果を機械学習装置に入力し、機械学習装置から出力される二次判定結果及び推定異常原因を判断材料として出力する。
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