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1. WO2020192494 - DISPLAY PANEL TESTING METHOD AND TESTING MACHINE

Publication Number WO/2020/192494
Publication Date 01.10.2020
International Application No. PCT/CN2020/079683
International Filing Date 17.03.2020
IPC
G02F 1/13 2006.01
GPHYSICS
02OPTICS
FDEVICES OR ARRANGEMENTS, THE OPTICAL OPERATION OF WHICH IS MODIFIED BY CHANGING THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIUM OF THE DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF THE INTENSITY, COLOUR, PHASE, POLARISATION OR DIRECTION OF LIGHT, e.g. SWITCHING, GATING, MODULATING OR DEMODULATING; TECHNIQUES OR PROCEDURES FOR THE OPERATION THEREOF; FREQUENCY-CHANGING; NON-LINEAR OPTICS; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
1Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
01for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
13based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
G06T 5/00 2006.01
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
5Image enhancement or restoration
G06T 7/00 2017.01
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
7Image analysis
G01N 21/88 2006.01
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible or ultra-violet light
84Systems specially adapted for particular applications
88Investigating the presence of flaws, defects or contamination
Applicants
  • 惠科股份有限公司 HKC CORPORATION LIMITED [CN]/[CN]
  • 重庆惠科金渝光电科技有限公司 CHONGQING HKC OPTOELECTRONICS TECHNOLOGY CO., LTD. [CN]/[CN]
Inventors
  • 赵文勤 ZHAO, Wenqin
Agents
  • 深圳市百瑞专利商标事务所(普通合伙) SHENZHEN BAIRUI PATENT&TRADEMARK OFFICE
Priority Data
201910219933.222.03.2019CN
Publication Language Chinese (ZH)
Filing Language Chinese (ZH)
Designated States
Title
(EN) DISPLAY PANEL TESTING METHOD AND TESTING MACHINE
(FR) PROCÉDÉ D'ESSAI ET MACHINE D'ESSAI DE PANNEAU D'AFFICHAGE
(ZH) 显示面板的检测方法和检测机台
Abstract
(EN)
A display panel testing method and a testing machine (1). The testing method comprises the steps of: photographing a display panel to be tested, and obtaining a test image of the display panel to be tested (S1); removing high frequency information in the test image, and obtaining a high frequency eliminated image (S2); according to the test image and the high frequency eliminated image, performing a difference degree calculation, and obtaining a difference degree image (S3); performing a determination on the difference degree image, and comparing the difference degree image with a preset threshold value; if the difference degree image exceeds the preset threshold value, determining that the display panel is defective; if the difference degree image does not exceed the preset threshold value, determining that the display panel passes the test (S4).
(FR)
L'invention concerne un procédé d'essai une machine d'essai de panneau d'affichage. Le procédé d'essai comprend les étapes consistant à : photographier un panneau d'affichage à essayer et obtenir une image d'essai du panneau d'affichage à essayer; éliminer des informations de haute fréquence dans l'image d'essai et obtenir une image à haute fréquence éliminée; conformément à l'image d'essai et à l'image à haute fréquence éliminée, effectuer un calcul de degré de différence, et obtenir une image à degré de différence; réaliser une détermination sur l'image à degré de différence, et comparer l'image à degré de différence avec une valeur de seuil prédéfinie; si l'image à degré de différence dépasse la valeur de seuil prédéfinie, déterminer que le panneau d'affichage est défectueux; si l'image à degré de différence ne dépasse pas la valeur de seuil prédéfinie, déterminer que le panneau d'affichage satisfait à l'essai.
(ZH)
一种显示面板的检测方法和检测机台(1)。检测方法包括步骤:对待检测显示面板拍照并获得待检测显示面板的待检图像(S1);去除待检图像中的高频信息,得到消高频图像(S2);根据待检图像与消高频图像,进行差异度计算,得到差异度图像(S3);对差异度图像判断,将差异度图像与一预设阈值进行比较,若差异度图像超过预设阈值,则判断为不良品;若未超出预设阈值,则判断为检测通过(S4)。
Also published as
Latest bibliographic data on file with the International Bureau