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1. WO2020138306 - LIGHT EMISSION DEVICE

Publication Number WO/2020/138306
Publication Date 02.07.2020
International Application No. PCT/JP2019/051164
International Filing Date 26.12.2019
IPC
H01L 51/50 2006.1
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
LSEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
51Solid state devices using organic materials as the active part, or using a combination of organic materials with other materials as the active part; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of such devices, or of parts thereof
50specially adapted for light emission, e.g. organic light emitting diodes (OLED) or polymer light emitting devices (PLED)
CPC
H01L 51/50
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
LSEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
51Solid state devices using organic materials as the active part, or using a combination of organic materials with other materials as the active part; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of such devices, or of parts thereof
50specially adapted for light emission, e.g. organic light emitting diodes [OLED] or polymer light emitting devices [PLED]
Applicants
  • パイオニア株式会社 PIONEER CORPORATION [JP]/[JP]
Inventors
  • 平沢 明 HIRASAWA Akira
  • 寺尾 佑生 TERAO Yuhki
Agents
  • 速水 進治 HAYAMI Shinji
  • 天城 聡 AMAGI Satoshi
Priority Data
2018-24773628.12.2018JP
Publication Language Japanese (JA)
Filing Language Japanese (JA)
Designated States
Title
(EN) LIGHT EMISSION DEVICE
(FR) DISPOSITIF D'ÉMISSION DE LUMIÈRE
(JA) 発光装置
Abstract
(EN)
A first region (RG1) contains a first organic material and a metal compound (a compound containing a metal element). A second region (RG2) contains the first organic material and the metal compound. An average intensity of a SIMS profile of the metal element in the second region (RG2) may be made smaller than an average intensity of a SIMS profile of the metal element in the first region (RG1). Specifically, the average intensity of the SIMS profile of the metal element in the second region (RG2) may be less than 10% and preferably less than 1.0% of the average intensity of the SIMS profile of the metal element in the first region (RG1).
(FR)
Une première région (RG1) contient un premier matériau organique et un composé métallique (un composé contenant un élément métallique). Une seconde région (RG2) contient le premier matériau organique et le composé métallique. Une intensité moyenne d'un profil SIMS de l'élément métallique dans la seconde région (RG2) peut être rendue plus petite qu'une intensité moyenne d'un profil SIMS de l'élément métallique dans la première région (RG1). En particulier, l'intensité moyenne du profil SIMS de l'élément métallique dans la seconde région (RG2) peut être inférieure à 10 % et de préférence inférieure à 1,0 % de l'intensité moyenne du profil SIMS de l'élément métallique dans la première région (RG1).
(JA)
第1領域(RG1)は、第1有機材料及び金属化合物(金属元素を含む化合物)を含んでいる。第2領域(RG2)は、第1有機材料及び金属化合物を含んでいる。第2領域(RG2)における金属元素のSIMSプロファイルの平均強度は、第1領域(RG1)における金属元素のSIMSプロファイルの平均強度より小さくすることができる。具体的には、第2領域(RG2)における金属元素のSIMSプロファイルの平均強度は、第1領域(RG1)における金属元素のSIMSプロファイルの平均強度の10%未満、好ましくは1.0%未満にすることができる。
Also published as
JP2020562419
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