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1. WO2020137526 - IMAGE INSPECTION INSTRUMENT GENERATION DEVICE, IMAGE INSPECTION DEVICE, IMAGE INSPECTION INSTRUMENT GENERATION PROGRAM, AND IMAGE INSPECTION INSTRUMENT GENERATION METHOD

Publication Number WO/2020/137526
Publication Date 02.07.2020
International Application No. PCT/JP2019/048327
International Filing Date 10.12.2019
IPC
G06T 7/00 2017.1
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
7Image analysis
CPC
G06N 3/04
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
NCOMPUTER SYSTEMS BASED ON SPECIFIC COMPUTATIONAL MODELS
3Computer systems based on biological models
02using neural network models
04Architectures, e.g. interconnection topology
G06T 7/00
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
7Image analysis
Applicants
  • オムロン株式会社 OMRON CORPORATION [JP]/[JP]
Inventors
  • 加藤 豊 KATO, Yutaka
Agents
  • 稲葉 良幸 INABA, Yoshiyuki
  • 大貫 敏史 ONUKI, Toshifumi
Priority Data
2018-24291826.12.2018JP
Publication Language Japanese (JA)
Filing Language Japanese (JA)
Designated States
Title
(EN) IMAGE INSPECTION INSTRUMENT GENERATION DEVICE, IMAGE INSPECTION DEVICE, IMAGE INSPECTION INSTRUMENT GENERATION PROGRAM, AND IMAGE INSPECTION INSTRUMENT GENERATION METHOD
(FR) DISPOSITIF DE GÉNÉRATION D'INSTRUMENT D'INSPECTION D'IMAGE, DISPOSITIF D'INSPECTION D'IMAGE, PROGRAMME DE GÉNÉRATION D'INSTRUMENT D'INSPECTION D'IMAGE ET PROCÉDÉ DE GÉNÉRATION D'INSTRUMENT D'INSPECTION D'IMAGE
(JA) 画像検査器生成装置、画像検査装置、画像検査器生成プログラム、及び画像検査器生成方法
Abstract
(EN)
Provided are an image inspection instrument generation device, an image inspection instrument generation program, and an image inspection instrument generation method that enable generation of image inspection instruments having high inspection accuracy without need of a large amount of images. An image inspection instrument generation device 50 is provided with an image inspection instrument generation unit 45 that, through machine learning based on learning images LG and inspection standards 32 for inspection objects, generates image inspection instruments 33 for inspecting inspection objects included in images. The inspection standards 32 include information about state variables of the inspection objects, state values of the state variables, and classes into which the inspection objects are classified.
(FR)
L'invention concerne un dispositif de génération d'instrument d'inspection d'image, un programme de génération d'instrument d'inspection d'image et un procédé de génération d'instrument d'inspection d'image qui permettent la génération d'instruments d'inspection d'image présentant une précision d'inspection élevée sans avoir besoin d'une grande quantité d'images. Un dispositif de génération d'instrument d'inspection d'image (50) comprend une unité de génération d'instrument d'inspection d'image (45) qui, par l'intermédiaire d'un apprentissage automatique en fonction d'images d'apprentissage LG et de normes d'inspection (32) pour des objets d'inspection, génère des instruments d'inspection d'image (33) permettant d'inspecter des objets d'inspection inclus dans des images. Les normes d'inspection (32) comprennent des informations concernant des variables d'état des objets d'inspection, des valeurs d'état des variables d'état, et des classes dans lesquelles les objets d'inspection sont classifiés.
(JA)
大量の画像を必要とすることなく検査精度の高い画像検査器を生成することのできる画像検査器生成装置、画像検査器生成プログラム、及び画像検査器生成方法を提供する。画像検査器生成装置50は、検査オブジェクトに対する検査基準32と学習用画像LGとに基づく機械学習によって、画像に含まれる検査オブジェクトを検査する画像検査器33を生成する画像検査器生成部45を備え、検査基準32は、検査オブジェクトの状態変数、当該状態変数の状態値、及び検査オブジェクトが分類されるクラスの情報を含む。
Also published as
Latest bibliographic data on file with the International Bureau