Processing

Please wait...

PATENTSCOPE will be unavailable a few hours for maintenance reason on Tuesday 27.07.2021 at 12:00 PM CEST
Settings

Settings

Goto Application

1. WO2020134901 - ELECTRICAL PARAMETER DETECTION METHOD, CHIP, CONSUMABLE, IMAGE FORMING DEVICE

Publication Number WO/2020/134901
Publication Date 02.07.2020
International Application No. PCT/CN2019/122618
International Filing Date 03.12.2019
IPC
G03G 21/18 2006.1
GPHYSICS
03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
GELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
21Arrangements not provided for by groups G03G13/-G03G19/92
16Mechanical means for facilitating the maintenance of the apparatus, e.g. modular arrangements
18using a processing cartridge
CPC
G03G 21/1878
GPHYSICS
03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
GELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
21Arrangements not provided for by groups G03G13/00 - G03G19/00, e.g. cleaning, elimination of residual charge
16Mechanical means for facilitating the maintenance of the apparatus, e.g. modular arrangements
18using a processing cartridge ; , whereby the process cartridge comprises at least two image processing means in a single unit
1875provided with identifying means or means for storing process- or use parameters, e.g. lifetime of the cartridge
1878Electronically readable memory
Applicants
  • 珠海奔图电子有限公司 ZHUHAI PANTUM ELECTRONICS CO., LTD. [CN]/[CN]
Inventors
  • 张浩 ZHANG, Hao
  • 尹爱国 YIN, Aiguo
Agents
  • 北京汇思诚业知识产权代理有限公司 UNI-INTEL PATENT AND TRADEMARK LAW FIRM
Priority Data
201811642461.329.12.2018CN
201910817052.030.08.2019CN
Publication Language Chinese (ZH)
Filing Language Chinese (ZH)
Designated States
Title
(EN) ELECTRICAL PARAMETER DETECTION METHOD, CHIP, CONSUMABLE, IMAGE FORMING DEVICE
(FR) PROCÉDÉ DE DÉTECTION DE PARAMÈTRE ÉLECTRIQUE, PUCE, PRODUIT CONSOMMABLE, DISPOSITIF DE FORMATION D'IMAGE
(ZH) 电参数检测方法、芯片、耗材、图像形成装置
Abstract
(EN)
Provided are an electrical parameter detection method, a chip (400), a consumable and an image forming device (1000). The electrical parameter detection method includes: an image forming control unit (300) for configuring mounting detection pins (SDA1, SCL1) to high level; and a chip control unit (410) for controlling the voltage of mounting detection terminals (SDA2, SCL2) to low level, so that a current loop is formed between the image forming device (1000) and the chip (400), wherein the image forming device (1000) determines whether the image forming device (1000) and the chip (400) are in good contact according to the electrical parameter of the current loop, and can detect whether the terminals on the chip (400) side and the pins on the body side of the image forming device (1000) are in poor contact.
(FR)
L'invention concerne un procédé de détection de paramètre électrique, une puce (400), un produit consommable et un dispositif de formation d'image (1000). Le procédé de détection de paramètre électrique comprend : une unité de commande de formation d'image (300) servant à configurer des broches de détection de montage (SDA1, SCL1) à un niveau élevé ; et une unité de commande de puce (410) servant à commander la tension des bornes de détection de montage (SDA2, SCL2) à un niveau bas, de telle sorte qu'une boucle de courant est formée entre le dispositif de formation d'image (1000) et la puce (400), le dispositif de formation d'image (1000) déterminant si le dispositif de formation d'image (1000) et la puce (400) sont bien en contact selon le paramètre électrique de la boucle de courant, et détectant si les bornes sur le côté puce (400) et les broches sur le côté corps du dispositif de formation d'image (1000) ne sont pas bien en contact.
(ZH)
一种电参数检测方法、芯片(400)、耗材及图像形成装置(1000)。电参数检测方法包括:图像形成控制单元(300)将安装检测引脚(SDA1、SCL1)配置为高电平;芯片控制单元(410)控制安装检测端子(SDA2、SCL2)的电压为低电平,以使得图像形成装置(1000)和芯片(400)之间形成电流回路;图像形成装置(1000)根据电流回路的电参数确定图像形成装置(1000)和芯片(400)是否接触良好,能够检测出芯片(400)侧的端子与图像形成装置(1000)本体侧的引脚之间是否接触不良。
Latest bibliographic data on file with the International Bureau