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1. WO2020134673 - CHIP COMPRISING PROCESS CORNER DETECTION CIRCUIT AND DETECTION METHOD

Publication Number WO/2020/134673
Publication Date 02.07.2020
International Application No. PCT/CN2019/118200
International Filing Date 13.11.2019
IPC
G01R 31/28 2006.1
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
CPC
G01R 31/2851
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
2851Testing of integrated circuits [IC]
Applicants
  • 北京无线电计量测试研究所 BEIJING INSTITUTE OF RADIO METROLOGY AND MEASUREMENT [CN]/[CN]
Inventors
  • 王旭 WANG, Xu
  • 杨帆 YANG, Fan
  • 倪娜 NI, Na
  • 马玉林 MA, Yulin
  • 甄玉龙 ZHEN, Yulong
  • 陈涛 CHEN, Tao
  • 王悦 WANG, Yue
  • 张亮 ZHANG, Liang
  • 任居胜 REN, Jusheng
Agents
  • 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 CO-HORIZON INTELLECTUAL PROPERTY INC.
Priority Data
201811598175.126.12.2018CN
Publication Language Chinese (ZH)
Filing Language Chinese (ZH)
Designated States
Title
(EN) CHIP COMPRISING PROCESS CORNER DETECTION CIRCUIT AND DETECTION METHOD
(FR) PUCE COMPRENANT UN CIRCUIT DE DÉTECTION DE CONDITION EXTRÊME DE TRAITEMENT ET PROCÉDÉ DE DÉTECTION
(ZH) 一种包含工艺角检测电路的芯片及检测方法
Abstract
(EN)
A chip comprising a process corner detection circuit (3) and a detection method. The chip comprises an operating circuit (2) and a detection circuit (3). The operating circuit (2) and the detection circuit (3) are simultaneously manufactured in the same process. The detection circuit (3) comprises an oscillator (51) and/or a constant voltage source (41). In the detection method, a difference between an output frequency of an oscillator (51) and a nominal frequency and/or a difference between an output voltage of a constant voltage source (41) and a nominal voltage are measured, thereby determining a frequency deviation percentage and/or a voltage deviation percentage of an operating circuit according to the measured differences. The detection method has a wide range of applications, high detection precision and a short detection period, and can realize high speed automatic detection, thereby reducing time costs incurred in performing a final test on a chip.
(FR)
L'invention concerne une puce comprenant un circuit de détection de condition extrême de traitement (3) et un procédé de détection. La puce comprend un circuit d'exploitation (2) et un circuit de détection (3). Le circuit d'exploitation (2) et le circuit de détection (3) sont fabriqués simultanément dans le même processus. Le circuit de détection (3) comprend un oscillateur (51) et/ou une source de tension constante (41). Dans le procédé de détection, une différence entre une fréquence de sortie d'un oscillateur (51) et une fréquence nominale et/ou une différence entre une tension de sortie d'une source de tension constante (41) et une tension nominale sont mesurées, ce qui permet de déterminer un pourcentage d'écart de fréquence et/ou un pourcentage d'écart de tension d'un circuit d'exploitation en fonction des différences mesurées. Le procédé de détection présente une large gamme d'applications, une précision de détection élevée et une courte période de détection, et peut effectuer une détection automatique à grande vitesse, ce qui permet de réduire les coûts en temps induits lors de la réalisation d'un test final sur une puce.
(ZH)
一种包含工艺角检测电路(3)的芯片及检测方法,芯片包括工作电路(2)和检测电路(3),工作电路(2)和检测电路(3)在同一工艺过程中同时制成,检测电路(3)包括振荡器(51)和或恒压源(41);检测方法通过测量振荡器(51)输出频率与标称频率的差值和或恒压源(41)输出电压值与标称电压值的差值,根据实测差值确定工作电路的频率偏差百分比和或电压偏差百分比。检测方法具有很强的通用性,检测精确、检测周期短,可以实现高速自动检测,降低了芯片出厂测试的时间成本。
Also published as
Latest bibliographic data on file with the International Bureau