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1. WO2020117370 - SYSTEMS AND METHODS FOR MATERIAL SIMULATION

Publication Number WO/2020/117370
Publication Date 11.06.2020
International Application No. PCT/US2019/055919
International Filing Date 11.10.2019
IPC
G06F 17/50 2006.01
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
17Digital computing or data processing equipment or methods, specially adapted for specific functions
50Computer-aided design
Applicants
  • GEORGIA TECH RESEARCH CORPORATION [US]/[US]
Inventors
  • RAMPRASAD, Rampi
  • CHANDRASEKARAN, Anand
Agents
  • WEEKS, Dustin B.
  • SCHNEIDER, Ryan A.
Priority Data
62/744,59311.10.2018US
Publication Language English (EN)
Filing Language English (EN)
Designated States
Title
(EN) SYSTEMS AND METHODS FOR MATERIAL SIMULATION
(FR) SYSTÈMES ET PROCÉDÉS DE SIMULATION D'UN MATÉRIAU
Abstract
(EN)
A system for a material simulation is disclosed. The system may receive an input structure for the material and identify a reference grid point for the material. The system may determine a scalar, vector, and tensorial component for the material. Further, the system may render the vector component and the tensorial component rotationally invariant. Next, the system may generate a first structure fingerprint for the material based on the scalar, vector component, and tensorial component. The system may map the structure fingerprint to stored atomic configurations and based on corresponding stored atomic configuration(s), may determine an approximate total electronic charge density and a plurality of approximate energy levels for the reference grid point. Based on the plurality of approximate energy levels, the system may determine a predictive local density of states for the reference grid point. The system may also generate and display a visual simulation of the material.
(FR)
L'invention concerne un système de simulation d'un matériau. Le système peut recevoir une structure d'entrée pour le matériau et identifier un point de grille de référence pour ledit matériau. Le système peut déterminer une composante scalaire, une composante vectorielle et une composante tensorielle pour ledit matériau. En outre, le système peut rendre la composante vectorielle et la composante tensorielle invariantes en rotation. Ensuite, le système peut générer une première empreinte de structure pour le matériau sur la base de la composante scalaire, de la composante vectorielle et de la composante tensorielle. Le système peut mapper l'empreinte de structure sur des configurations atomiques stockées et, sur la base d'une (de) configuration(s) atomique(s) stockée(s) correspondante(s), peut déterminer une densité de charge électronique totale approximative et une pluralité de niveaux d'énergie approximatifs pour le point de grille de référence. Sur la base de la pluralité de niveaux d'énergie approximatifs, le système peut déterminer une densité locale prédictive d'états pour le point de grille de référence. Le système peut également générer et afficher une simulation visuelle du matériau.
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