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1. WO2020116405 - LEARNING DEVICE, ESTIMATION DEVICE, PARAMETER CALCULATION METHOD, AND PROGRAM

Publication Number WO/2020/116405
Publication Date 11.06.2020
International Application No. PCT/JP2019/047093
International Filing Date 02.12.2019
IPC
G06N 20/00 2019.01
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
NCOMPUTER SYSTEMS BASED ON SPECIFIC COMPUTATIONAL MODELS
20Machine learning
Applicants
  • 日本電信電話株式会社 NIPPON TELEGRAPH AND TELEPHONE CORPORATION [JP]/[JP]
Inventors
  • 岩田 具治 IWATA, Tomoharu
  • 山中 友貴 YAMANAKA, Yuki
Agents
  • 伊東 忠重 ITOH, Tadashige
  • 伊東 忠彦 ITOH, Tadahiko
  • 石原 隆治 ISHIHARA, Takaji
Priority Data
2018-22851605.12.2018JP
Publication Language Japanese (JA)
Filing Language Japanese (JA)
Designated States
Title
(EN) LEARNING DEVICE, ESTIMATION DEVICE, PARAMETER CALCULATION METHOD, AND PROGRAM
(FR) DISPOSITIF D'APPRENTISSAGE, DISPOSITIF D'ESTIMATION, PROCÉDÉ DE CALCUL DE PARAMÈTRE ET PROGRAMME
(JA) 学習装置、推定装置、パラメータ算出方法、及びプログラム
Abstract
(EN)
This learning device is provided with: an input data reading unit which inputs data and a label indicating whether or not the data is abnormal; an objective function calculating unit which uses the data and the value of a parameter to calculate a value of an objective function based on the label and a predetermined function for calculating a degree of abnormality of data by applying the parameter relating to the degree of abnormality; and a parameter update unit which calculates the value of the parameter that maximizes the value of the objective function, by repeatedly executing the process by the objective function calculation unit, while updating the value of the parameter.
(FR)
L'invention concerne un dispositif d'apprentissage comprenant : une unité de lecture de données d'entrée qui entre des données et une étiquette indiquant si les données sont anormales ou non ; une unité de calcul de fonction objective qui utilise les données et la valeur d'un paramètre pour calculer une valeur d'une fonction objective en fonction de l'étiquette et d'une fonction prédéterminée afin de calculer un degré d'anomalie de données par l'application du paramètre relatif au degré d'anomalie ; et une unité de mise à jour de paramètre qui calcule la valeur du paramètre qui optimise la valeur de la fonction objective, par l'exécution répétée du processus par l'unité de calcul de fonction objective, pendant la mise à jour de la valeur du paramètre.
(JA)
学習装置において、データと、データが異常か否かを示すラベルとを入力する入力データ読み込み部と、異常度に関するパラメータを適用してデータの異常度を算出するための所定の関数と、前記ラベルとに基づく目的関数の値を、前記データと前記パラメータの値とを用いて算出する目的関数計算部と、前記パラメータの値を更新しながら、前記目的関数計算部による処理を繰り返し実行することにより、前記目的関数の値を最大化する前記パラメータの値を算出するパラメータ更新部とを備える。
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