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1. WO2020110960 - PROBE MATING STRUCTURE AND PROBE

Publication Number WO/2020/110960
Publication Date 04.06.2020
International Application No. PCT/JP2019/045857
International Filing Date 22.11.2019
IPC
G01R 1/06 2006.01
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
1Details of instruments or arrangements of the types covered by groups G01R5/-G01R13/122
02General constructional details
06Measuring leads; Measuring probes
G01R 1/067 2006.01
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
1Details of instruments or arrangements of the types covered by groups G01R5/-G01R13/122
02General constructional details
06Measuring leads; Measuring probes
067Measuring probes
CPC
G01R 1/06
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
1Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
02General constructional details
06Measuring leads; Measuring probes
G01R 1/067
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
1Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
02General constructional details
06Measuring leads; Measuring probes
067Measuring probes
Applicants
  • 株式会社村田製作所 MURATA MANUFACTURING CO., LTD. [JP]/[JP]
Inventors
  • 剱崎 真一 KENZAKI Shinichi
Agents
  • 特許業務法人 楓国際特許事務所 KAEDE PATENT ATTORNEYS' OFFICE
Priority Data
2018-22362729.11.2018JP
Publication Language Japanese (JA)
Filing Language Japanese (JA)
Designated States
Title
(EN) PROBE MATING STRUCTURE AND PROBE
(FR) STRUCTURE D'ACCOUPLEMENT DE SONDE ET SONDE
(JA) プローブ嵌合構造及びプローブ
Abstract
(EN)
A probe mating structure according to the present invention comprises a connector (3), constituting an object of inspection, that has a plurality of arrayed connector electrodes, and a probe that mates to the connector (3). The probe comprises: a flange, having a through-hole, for attaching the probe to an instrument; a coaxial cable which passes through the through-hole, a probe pin having been attached to a distal end thereof; a plunger (4) for exposing the probe pin from the distal end; and a spring that envelops the coaxial cable between the flange and the plunger (4), and that is anchored at one end to the flange and anchored at the other end to the plunger (4). The plunger (4) has a plunger-side mating part formed on a distal end of the plunger (4), and the connector (3) has connector-side mating parts (holes (H1, H2)) that mate with the plunger-side mating part.
(FR)
L'invention concerne une structure d'accouplement de sonde comprenant un connecteur (3), constituant un objet d'inspection, qui a une pluralité d'électrodes de connecteur en réseau et une sonde qui s'accouple au connecteur (3). La sonde comprend : une bride, ayant un trou traversant, pour fixer la sonde à un instrument ; un câble coaxial qui passe à travers le trou traversant, une broche de sonde ayant été fixée à une extrémité distale de celui-ci ; un piston (4) pour exposer la broche de sonde à partir de l'extrémité distale ; et un ressort qui enveloppe le câble coaxial entre la bride et le piston (4) et qui est ancré à une extrémité à la bride et ancré à l'autre extrémité au piston (4). Le piston (4) a une partie d'accouplement côté piston formée sur une extrémité distale du piston (4) et le connecteur (3) a des parties d'accouplement côté connecteur (trous (H1, H2)) qui s'accouplent avec la partie d'accouplement côté piston.
(JA)
プローブ嵌合構造は、配列された複数の接続電極を有する検査対象のコネクタ(3)と、コネクタ(3)に嵌合するプローブと、を有する。プローブは、貫通孔を有し、当該プローブを器具に取り付けるためのフランジと、貫通孔に挿通され、先端部にプローブピンを取り付けた同軸ケーブルと、先端からプローブピンを露出させるプランジャ(4)と、フランジとプランジャ(4)との間で同軸ケーブルを内包し、一方端部がフランジに固定され、他方端部がプランジャ(4)に固定されたスプリングと、を備える。プランジャ(4)は、当該プランジャ(4)の先端部に形成されたプランジャ側嵌合部を有し、コネクタ(3)は、プランジャ側嵌合部と嵌合するコネクタ側嵌合部(孔部(H1,H2))を有する。
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