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1. WO2020110788 - MEASUREMENT DEVICE AND MEASUREMENT METHOD

Publication Number WO/2020/110788
Publication Date 04.06.2020
International Application No. PCT/JP2019/044979
International Filing Date 15.11.2019
IPC
G01N 29/02 2006.01
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
29Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
02Analysing fluids
G01N 29/30 2006.01
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
29Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
22Details
30Arrangements for calibrating or comparing, e.g. with standard objects
CPC
G01N 29/02
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
29Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
02Analysing fluids
G01N 29/30
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
29Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
22Details ; , e.g. general constructional or apparatus details
30Arrangements for calibrating or comparing, e.g. with standard objects
Applicants
  • 京セラ株式会社 KYOCERA CORPORATION [JP]/[JP]
Inventors
  • 田中 浩康 TANAKA, Hiroyasu
Agents
  • 特許業務法人酒井国際特許事務所 SAKAI INTERNATIONAL PATENT OFFICE
Priority Data
2018-22366629.11.2018JP
Publication Language Japanese (JA)
Filing Language Japanese (JA)
Designated States
Title
(EN) MEASUREMENT DEVICE AND MEASUREMENT METHOD
(FR) DISPOSITIF DE MESURE ET PROCÉDÉ DE MESURE
(JA) 測定装置および測定方法
Abstract
(EN)
Provided are a measurement device, and the like, capable of reducing the influence of sensor sensitivity difference. This measurement device comprises a sensor capable of detecting a substance to be detected in a sample using a signal change resulting from the substance to be detected, a storage unit having stored thereon a reference signal change that has been acquired using a sensor having a similar configuration to the sensor and has resulted from a correction substance which is to be used for sensor calibration and has a specific known measurement value, and a calculation unit for deriving a measurement value for the substance to be detected from the signal change and reference signal change. The calculation unit calculates a correction value on the basis of the reference signal change and a first signal change that has resulted from the correction substance; calculates a third signal change by using the correction value to correct a second signal change that has resulted from the substance to be detected; and then derives a measured value from the third signal change.
(FR)
L'invention concerne un dispositif de mesure, et analogue, permettant de réduire l'influence de la différence de sensibilité de capteur. Ledit dispositif de mesure comprend un capteur permettant de détecter une substance à détecter dans un échantillon à l'aide d'un changement de signal résultant de la substance à détecter, une unité de mémoire sur laquelle est mémorisé un changement de signal de référence acquis à l'aide d'un capteur présentant une configuration similaire au capteur et obtenu à partir d'une substance de correction devant être utilisée pour un étalonnage de capteur et présentant une valeur de mesure connue spécifique, et une unité de calcul permettant de déduire une valeur de mesure de la substance à détecter à partir du changement de signal et du changement de signal de référence. L'unité de calcul calcule une valeur de correction en fonction du changement de signal de référence et d'un premier changement de signal obtenu à partir de la substance de correction ; calcule un troisième changement de signal à l'aide de la valeur de correction afin de corriger un deuxième changement de signal obtenu à partir de la substance à détecter ; et déduit ensuite une valeur mesurée à partir du troisième changement de signal.
(JA)
センサの感度差の影響を低減することができる測定装置等を提供する。測定装置は、検体中の検出対象に起因する信号変化によって、検出対象を検出可能なセンサと、当該センサと同様の構成を有するセンサによって取得した、センサの校正に使用し既知の特定の測定値を有する補正体に起因した基準信号変化を記憶した記憶部と、信号変化および基準信号変化に基づいて、検出対象の測定値を導出する計算部と、を備える。そして、計算部は、基準信号変化と、補正体に起因した第1信号変化と、に基づいて補正値を算出し、かつ検出対象に起因した第2信号変化から補正値で補正した第3信号変化を算出した後、第3信号変化に基づいて測定値を導出する。
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